[实用新型]一种测试探针

说明书

本实用新型公开了一种测试探针，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生，同时增大针体与待测试产品的接触面积，增强针体的导电性能，降低探针出现接触不良的可能性；解决的问题是，OGS型号触摸屏在测试时经常出现被现有的测试探针尖端位置扎坏油墨造成透光不良。

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试探针。

背景技术

在触摸屏线路流程制作完成后，会进行功能测试的环节；目前OGS（one glasssolution,即单片玻璃制程，在一片玻璃上直接形成ITO导电膜及传感器技术）型号在测试时经常出现测试接触的探针尖端位置扎坏油墨造成透光不良。

实用新型内容

本实用新型提供一种测试探针，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生，同时增大针体与待测试产品的接触面积，增强针体的导电性能，降低探针出现接触不良的可能性。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案实现的：

一种测试探针，包括针体、套体；所述针体的尾端连接于套体内部；所述套体包括侧壁、底面；所述套体与针体之间设有弹簧，所述弹簧一端固定连接在套体的底面，一端固定连接在针体的尾部；所述针体的顶部为平面。

采用上述结构，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生。

进一步优化为，所述针体是边缘设有倒角的圆柱形。

采用上述结构，针体边缘设有倒角，防止顶部为平面的针体边缘划伤待测试产品。

进一步优化为，所述弹簧的劲度系数为10 N/mm。

采用上述结构，弹簧的劲度系数从25 N/mm降低到10 N/mm，防止弹簧造成的压力过大，使得测试探针压伤待测试产品。

进一步优化为，所述针体周围设有定位套筒，所述定位套筒与套体固定连接。

采用上述结构，定位套筒使得针体的上下移动更精细，不发生左右偏移，同时，起到保护针体的作用，防止探针的撞击导致针体折断。

进一步优化为，所述测试探针是用于触摸屏测试的测试探针。

采用上述结构，触摸屏造价昂贵容易压伤，使用本测试探针防止触摸屏被压伤。

进一步优化为，所述针体是铜针体。

采用上述结构，铜针体的电阻率较高，适合作为测试探针的原材料，同时，铜不易被腐蚀，使用时间长。

进一步优化为，所述套体与外部测试机构连接，控制套体的上下移动。

综上所述，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型提供一种测试探针，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生，同时增大针体与待测试产品的接触面积，增强针体的导电性能，降低探针出现接触不良的可能性；解决的问题是， OGS型号触摸屏在测试时经常出现被现有的测试探针尖端位置扎坏油墨造成透光不良。

附图说明

图1是现有技术中的测试探针的示意图。

图2是本实用新型的一个实施例中测试探针的示意图。

附图标记：1、套体； 2、针体； 201、倒角； 3、弹簧； 4、定位套筒。

具体实施方式