[实用新型]超薄纳米晶带材宽度检测装置有效
| 申请号： | 201920403554.4 | 申请日： | 2019-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN209668441U | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 晋立丛;邓毕力;冯英杰;罗顶飞 | 申请（专利权）人： | 安徽智磁新材料科技有限公司 |
| 主分类号： | B65H26/00 | 分类号： | B65H26/00;B65H23/032 |
| 代理公司： | 11265 北京挺立专利事务所(普通合伙) | 代理人： | 盛君梅<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 236000 安徽省阜阳*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 带材 纠偏传感器 检测 放卷电机 放卷机构 放卷轴 检测头 导辊 宽度检测装置 本实用新型 控制气缸 收卷机构 轴向移动 偏移 纳米晶 收卷轴 保证 | ||
【权利要求书】：
1.一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括放卷机构、检测平台、收卷机构以及PLC控制器，所述检测平台上设置有若干导辊以及用于检测带材宽度的检测头，其特征在于：所述放卷机构包括放卷轴、放卷电机、导辊以及纠偏传感器，纠偏传感器连接PLC控制器，纠偏传感器用于检测带材的位置；PLC控制器控制放卷电机，且放卷轴在PLC控制器控制下，可沿轴往复运动。
2.根据权利要求1所述的超薄纳米晶带材宽度检测装置，其特征在于：所述放卷机构还包括一个机架，导辊位于机架上，在机架上还设置一个竖直的安装板，放卷电机、放卷轴均位于安装板上，在机架上设置有气缸，气缸连接安装板用于推动安装板沿放卷轴轴向移动。
3.根据权利要求2所述的超薄纳米晶带材宽度检测装置，其特征在于：所述检测平台上设置有两个导辊，两个导辊位于同一高度上，检测头位于两个导辊之间，且检测头为多个。
4.根据权利要求2所述的超薄纳米晶带材宽度检测装置，其特征在于：所述检测平台上还设置有张紧辊，张紧辊的转轴两端设置竖直的弹簧，弹簧底部固定在检测平台上表面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽智磁新材料科技有限公司，未经安徽智磁新材料科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201920403554.4/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：新型铝箔复卷机
- 下一篇：一种用于折页机的收集装置
