[实用新型]单纵模染料激光器扫频装置

说明书

本实用新型公开了一种单纵模染料激光器扫频装置，所述的单纵模染料激光器扫频装置，包括单纵模激光振荡器，Fizeau波长计，与所述的波长计通讯连接的控制器，所述的单纵模激光振荡器包括受驱动相对底板转动的转动板，固定设置在转动板上的端面镜，固定设置在底板上且与所述的控制器可控连接的压电陶瓷，与所述的压电陶瓷的动端固定连接的后腔镜，以及光栅，本实用新型在波长扫描过程中，采用Fizeau波长计反馈谐振腔输出激光的干涉条纹，实时监测微小邻近寄生亮条纹，并判断腔长失调方向，再通过控制压电陶瓷伸缩来进行腔长的补偿，消除寄生模。

技术领域

本实用新型属于激光控制技术领域，具体涉及一种单纵模染料激光器扫频装置。

背景技术

激光具有良好的单色性和相干性，因此被广泛地应用在各个领域中。单纵模激光线宽通常在100MHz以下，在光谱、光与物质相互作用、超精细结构等领域得到广泛应用。在应用中，需要激光器的输出波长在宽范围内进行扫描，同时保持输出无跳模。

在单纵模光纤激光器、固体激光器等领域，通常采用窄带滤波器进行调谐，实现激光波长窄范围调谐输出。Littman型激光器通过调节腔镜与光栅的角度来调节输出波长，实现波长扫描，在外腔半导体激光器、染料激光器等可调谐激光器中应用。这种激光器由于调节过程中存在运动器件，以及机械结构精度的限制，会造成腔长与振荡激光模式失调，从而产生跳模，连续扫描效果差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种单纵模染料激光器扫频装置，其具有波长的大范围、无跳模、连续扫描，能提高对输出光的波长扫描效果。

本实用新型的目的在于还同时公开了一种控制方法，有效提高了处理速度。

本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种单纵模染料激光器扫频装置，包括单纵模激光振荡器，Fizeau波长计，与所述的波长计通讯连接的控制器，

所述的单纵模激光振荡器包括受驱动相对底板转动的转动板，固定设置在转动板上的端面镜，固定设置在底板上且与所述的控制器可控连接的压电陶瓷，与所述的压电陶瓷的动端固定连接的后腔镜，以及光栅，振荡光在光栅的零级衍射光为输出光，所述的Fizeau波长计用以对所述的输出光波长进行测量并形成干涉条纹。

在上述技术方案中，所述的转动板的转动轴位于端面镜的反射面和光栅的光栅面的延长线焦点。

在上述技术方案中，所述的转动板的驱动机构包括与所述的控制器经端面镜旋转驱动器连接的驱动电机，由所述的驱动电机驱动直线往复运动的滑块，以及与所述的滑块可旋转连接的推动杆，所述的推动杆与所述的转动板可旋转连接。

在上述技术方案中，所述的后腔镜、端面镜和光栅构成的Littman型谐振腔的腔长为10cm-15cm。

在上述技术方案中，所述的Fizeau波长计的自由光谱范围不是恰好等于谐振腔模间隔的两倍。

在上述技术方案中，该谐振腔的模间隔约为1.5GHz，Fizeau波长计所用干涉仪的自由光谱范围为3.75GHz。

所述的输出光一侧设置有取样光纤，所述的取样光纤将输出光传导至Fizeau波长计。

在上述技术方案中，所述的压电陶瓷为环形压电陶瓷，所述的环形压电陶瓷由与所述的控制器通讯连接的压电陶瓷驱动器驱动。

在上述技术方案中，所述的转动板为三角板。

一种所述的单纵模染料激光器的波长扫描控制方法，包括以下步骤，

1)转动端面镜，按设定的步长进行波长扫描，

2)读取Fizeau波长计实时测量的干涉条纹，