[实用新型]一种芯片测试辅助装置

说明书

本实用新型涉及芯片测试附属装置的技术领域，特别是涉及一种芯片测试辅助装置，其方便对芯片进行拆装，提高使用可靠性；并且可以对芯片进行去静电操作，避免芯片由于静电吸附空气中的灰尘，保证测试的精度，提高实用性；包括检测箱、驱动电机、减速箱、转盘、支柱、连接杆、压缩弹簧、推杆、支杆、转轴和四组支腿，检测箱的内部设置有工作腔，检测箱的前端设置有取放口，转盘顶端的左端、右端、前端和后端均设置有定位槽，并在定位槽内安装有定位装置，定位槽内均设置有上下贯通的通孔，还包括检测装置、固定板、万向轮、四组弧形凸起和除静电装置，除静电装置包括两组螺纹管、两组螺纹杆、安装板、离子风扇和两组第一滚珠轴承。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试附属装置的技术领域，特别是涉及一种芯片测试辅助装置。

背景技术

众所周知，芯片测试辅助装置是一种用于芯片生产加工过程中，对芯片进行测试的辅助装置，其在电子产品加工的领域中得到了广泛的使用；现有的芯片测试辅助装置包括检测台，检测台的顶端设置有放置台，并在放置台上设置有定位槽，检测台的顶端设置有门型支架，并在门型支架的底端安装有检测端子，检测端子位于定位槽的正上方；现有的芯片测试辅助装置使用时，将芯片置于定位槽内，然后通过检测端子对芯片进行检测即可；现有的芯片测试辅助装置使用中发现，其不方便对芯片进行拆装，导致使用可靠性较低；并且芯片上的静电会吸附空气中的灰尘，从而对测试的精度造成影响，导致实用性较低。

发明内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种方便对芯片进行拆装，提高使用可靠性；并且可以对芯片进行去静电操作，避免芯片由于静电吸附空气中的灰尘，保证测试的精度，提高实用性的芯片测试辅助装置。

本实用新型的一种芯片测试辅助装置，包括检测箱、驱动电机、减速箱、转盘、支柱、连接杆、压缩弹簧、推杆和支杆，检测箱底端的左前侧、右前侧、左后侧和右后侧均设置有支腿，并在检测箱的内部设置有工作腔，检测箱的前端设置有取放口，所述驱动电机和减速箱均安装于检测箱的底端，并且减速箱位于驱动电机的输出端，并在减速箱的顶部输出端设置有转轴，所述转轴的顶端自检测箱的底端伸入至工作腔内并与转盘的底端中部连接，所述转盘顶端的左端、右端、前端和后端均设置有定位槽，并在定位槽内安装有定位装置，工作腔内顶壁的后端设置有检测装置，所述检测装置位于后端所述定位装置的正上方，所述支柱的底端与工作腔的内底壁左侧连接，支柱的顶端与连接杆底端的偏右位置可转动连接，支柱的右端设置有固定板，所述压缩弹簧的顶端与连接杆的底端连接，压缩弹簧的底端与固定板的顶端连接，所述支杆的底端与连接杆的右端连接，并在支杆的顶端设置有万向轮，转盘的底端均匀设置有四组弧形凸起，所述四组弧形凸起分别位于四组定位槽的内侧，最左端一组弧形凸起的底端与万向轮的顶端贴紧，四组定位槽内均设置有上下贯通的通孔，所述推杆的底端与连接杆的左端连接，推杆的顶端自转盘的底端穿过一组所述通孔并伸入至左端一组所述定位槽内；还包括除静电装置，所述除静电装置安装于工作腔的内顶壁上，并且除静电装置位于最右端一组定位装置的正上方，除静电装置包括两组螺纹管、两组螺纹杆、安装板和离子风扇，工作腔的内顶壁上设置有两组安装槽，并在两组安装槽内均固定安装有第一滚珠轴承，所述两组螺纹管的底端分别插入至两组第一滚珠轴承内部，所述两组螺纹杆的底端分别与安装板顶端的左侧和右侧连接，两组螺纹杆的顶端分别插入并螺装至两组螺纹管的底端内部，所述离子风扇安装于安装板的底端，并且离子风扇的输出端竖直向下。