[实用新型]一种可穿戴设备整机电流测试电路

说明书

一种可穿戴设备整机电流测试电路，所述电流测试电路包括锂电池B1、充电接口、充电芯片U5、降压LDO芯片U6；所述锂电池B1连接所述充电芯片U5，所述充电芯片U5连接所述充电接口；所述锂电池B1连接所述降压LDO芯片U6，所述降压LDO芯片U6连接所述充电接口；在所述锂电池B1与所述充电芯片U5之间，还设置有第一P‑MOS开关；在所述锂电池B1与所述降压LDO芯片U6之间，还设置有第二P‑MOS开关；所述第一P‑MOS开关的栅极连接高电平输入单元。

技术领域

本发明涉及一种可穿戴设备，具体而言，涉及一种可穿戴设备的可进行整机电流测试的电路。

背景技术

目前的智能可穿戴设备如智能手表手环防水要求越来越高，这就导致产品拆机就造成整机报废，工厂生产时会测试PCBA电流，以确保板子SMT贴片完成后无功能和电性能故障，确保整机组装完成后功能和性能正常，可检测出PCBA在生产组装后端造成的损伤，但是组装成整机后无法测试整机电流功耗，如产品不良整机装配后拆机将报废物料，或者批量出货客诉造成批量损失。

这种测试PCBA功能和性能的方式可以在生产线组装前端发现功能和电性能故障，但是生产过程中往往很难避免人员和设备损伤电路板和元器件，如生产过程中掉入异物，飞溅的锡渣，器件脱落，PCB变形导致电容损伤漏电等，整机组装后往往只能测试功能是否异常，无法测试整机电性能，如整机因为PCB或器件损伤漏电是无法检测的，尤其是可穿戴设备如智能手环手表对待机续航时间要求非常高，一旦由于生产造成的不良无法及时发现，造成批量客诉损失，并且生产线无法及时识别到风险，由于持续生产造成的大批量损失。

发明内容

本发明基于上述的缺陷提供一种可穿戴设备如智能手表手环等设备实现整机测试电流的电路，解决产品整机无法测试电性能的缺陷，并且有效的批量检测生产不良，并反馈问题及时改善生产工艺。进一步提高产品批量生产的可靠性，避免生产工艺和设计考虑不全造成的批量不良损失。

本发明具体的技术方案如下：

一种可穿戴设备整机电流测试电路，所述电流测试电路包括锂电池B1、充电接口、充电芯片U5、降压LDO芯片U6；

所述锂电池B1连接所述充电芯片U5，所述充电芯片U5连接所述充电接口；

所述锂电池B1连接所述降压LDO芯片U6，所述降压LDO芯片U6连接所述充电接口；

其特征在于：

在所述锂电池B1与所述充电芯片U5之间，还设置有第一P-MOS开关；

在所述锂电池B1与所述降压LDO芯片U6之间，还设置有第二P-MOS开关；

所述第一P-MOS开关的栅极连接高电平输入单元。

进一步地，所述第一P-MOS开关的源极连接所述锂电池B1，漏极连接所述充电芯片；所述第一P-MOS开关的栅极连接第一电阻R19后接地。

进一步地，所述第一P-MOS开关的漏极连接所述充电芯片的BAT引脚。

进一步地，所述第二P-MOS开关的漏极连接所述锂电池B1，栅极连接所述高电平输入单元，源极连接所述降压LDO芯片U6；所述第二P-MOS开关的栅极连接第二电阻R22后接地。

进一步地，所述高电平输入单元为单片机U7。

进一步地，所述单片机U7为Apollo3可编程控制单片机。

进一步地，所述第一P-MOS开关的栅极连接所述单片机U7的GPIO3引脚。

进一步地，所述单片机U7的RF引脚连接蓝牙芯片。

进一步地，所述单片机U7的GPIO1引脚连接按键开关或触摸开关。