[实用新型]芯片测试治具

说明书

本实用新型涉及芯片质检装置的技术领域，特别是涉及芯片测试治具，其可增强芯片样品在放置板上的稳固性，提高检测效果；同时可根据需求对放置板的高度进行调整，提高适应能力；且可保证芯片样品放置后的水平性，以便保证采集样品图片灰阶度的均匀性以及图像的清晰度，提高使用可靠性；包括底座、支架和放置板；还包括左支板、左调节件、左卡板、右支板、右调节件和右卡板，左卡板和右卡板底端均与放置板上侧面接触；还包括四组辅助件，支架包括四组螺纹管和四组螺纹杆，四组螺纹杆顶端分别插入并螺装在四组螺纹管底端内部；还包括两组固定板、两组半圆仪、连接绳和重锤，连接绳设置在放置板底端中心，重锤设置在连接绳底端。

技术领域

本实用新型涉及芯片质检装置的技术领域，特别是涉及芯片测试治具。

背景技术

众所周知，芯片测试治具是一种用于芯片测试过程中，对芯片进行放置固定，以便后续进行测试的辅助装置，其在质检领域中得到广泛的使用；现有的芯片测试治具包括底座、支架和放置板，支架设置在底座顶端，放置板设置在支架顶端；这种芯片测试治具使用时先将底座安装在检测装置上，之后将芯片样品放在放置板上，放好后通过检测装置对芯片进行测试即可；这种芯片测试治具使用中发现，芯片样品在放置板上的稳固性有限，易在检测过程中发生移位，影响检测效果；并且放置板的高度固定，不能根据需求进行调整，适应能力较差；且芯片样品放置时与水平面存在一个夹角，导致在采集样品图片时会产生灰阶度不均匀以及部分图像模糊不清的情况，使用可靠性有限。

发明内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种可增强芯片样品在放置板上的稳固性，提高检测效果；同时可根据需求对放置板的高度进行调整，提高适应能力；且可保证芯片样品放置后的水平性，以便保证采集样品图片灰阶度的均匀性以及图像的清晰度，提高使用可靠性的芯片测试治具。

本实用新型的芯片测试治具，包括底座、支架和放置板，支架设置在底座顶端，放置板设置在支架顶端；还包括左支板、左调节件、左卡板、右支板、右调节件和右卡板，所述左支板和右支板分别设置在放置板顶端左右两侧上，左调节件和右调节件分别设置在左支板和右支板上，所述左卡板和右卡板分别设置在左调节件和右调节件上，且左卡板和右卡板底端均与放置板上侧面接触；还包括四组辅助件，所述支架包括四组螺纹管和四组螺纹杆，所述四组辅助件分别设置在放置板底端左前侧、左后侧、右前侧和右后侧上，四组螺纹管分别设置在四组辅助件底端，所述四组螺纹杆顶端分别插入并螺装在四组螺纹管底端内部，且四组螺纹杆底端分别与底座顶端左前侧、左后侧、右前侧和右后侧连接；还包括两组固定板、两组半圆仪、连接绳和重锤，所述连接绳设置在放置板底端中心，重锤设置在连接绳底端，所述两组固定板分别设置在放置板底端后侧和右侧，两组半圆仪分别设置在位于后侧的固定板前侧面和位于右侧的固定板左侧面上，且两组半圆仪的中心线均与连接绳位于同一水平线上。

本实用新型的芯片测试治具，所述左调节件包括左转动块、左螺杆、左套筒和左连接环，左支板上设置有左螺纹口，所述左螺杆螺装在左螺纹口上，且左螺杆右端与左卡板左端接触，所述左转动块设置在左螺杆左端，左套筒套装在左螺杆右端，且左套装右端与左卡板左端连接，所述左螺杆右半区域外侧壁上设置有左环形凹槽，左连接环套装在左环形凹槽上，且左连接环右端与左套筒左端连接。

本实用新型的芯片测试治具，所述右调节件包括右转动块、右螺杆、右套筒和右连接环，右支板上设置有右螺纹口，所述右螺杆螺装在右螺纹口上，且右螺杆左端与右卡板右端接触，所述右转动块设置在右螺杆右端，右套筒套装在右螺杆左端，且右套装左端与右卡板右端连接，所述右螺杆左半区域外侧壁上设置有右环形凹槽，右连接环套装在右环形凹槽上，且右连接环左端与右套筒右端连接。

本实用新型的芯片测试治具，所述辅助件包括上支块、下支块和支撑弹簧组，所述下支块设置在螺纹管顶端，支撑弹簧组设置在下支块顶端，所述上支块设置在支撑弹簧组顶端，且上支块顶端与放置板底端连接。

本实用新型的芯片测试治具，还包括左防滑板和右防滑板，所述左防滑板和右防滑板分别设置在左卡板右侧面和右卡板左侧面上。