[实用新型]一种毫米波段液晶材料测试系统

权利要求书

1.一种毫米波段液晶材料测试系统，其特征在于：所述毫米波段液晶材料测试系统用于测试液晶材料的响应时间，毫米波段液晶材料测试系统包括基于液晶材料的电感耦合方形谐振环整体结构，所述电感耦合方形谐振环整体结构通过同轴馈电接口构成电感耦合方形谐振环整体结构的输入端口与输出端口；

所述电感耦合方形谐振环整体结构的输入端口连接有T型偏置器的RF&DC端口，T型偏置器的DC端口连接有电源，T型偏置器的RF端口连接有矢量网络分析仪；所述电源还依次连接有函数发生器、数字示波器，数字示波器的另一接口依次通过RF检波器、高通滤波器后连接到电感耦合方形谐振环整体结构的输出端口。

2.根据权利要求1所述的毫米波段液晶材料测试系统，其特征在于：

所述电感耦合方形谐振环整体结构包含上下重叠的两层射频基板，顶层射频基板设置有预留接头孔与液晶注入孔，顶层射频基板的底面光刻有谐振电路；

下层射频基板中部设置有空腔的液晶槽，液晶槽位于液晶注入孔的下方，下层射频基板上表面通过设置的半固化片与顶层视频基板层压合为一体，下层射频基板的下表面进行表面镀金并钎焊到金属托板上；两层射频基板设置有用于工地的金属化通孔。

3.根据权利要求2所述的毫米波段液晶材料测试系统，其特征在于：所述金属化通孔设置在位于同轴馈电接口的同轴探针径向两侧的位置。

4.根据权利要求3所述的毫米波段液晶材料测试系统，其特征在于：两层射频基板的材料为Rogers 4350B。

5.根据权利要求3所述的毫米波段液晶材料测试系统，其特征在于：所述半固化片材料为FR-28。