[实用新型]一种自动光学检测装置

说明书

本实用新型涉及一种自动光学检测装置。包括相机、光源、外光罩，相机的下方设置固定板，固定板上开设用于相机拍照的固定板拍照孔，相机的一侧固接推动板，在固定板和推动板之间固接滑动装置；外光罩设置于固定板下方，外光罩由上部光罩和下部光罩组成，上部光罩为穹顶结构，上部光罩的顶端开有供相机拍照的光罩拍照孔，下部光罩为环状结构，在下部光罩内部设置内光罩，内光罩的内壁为弧形，内光罩的底端直径比顶端直径小，内光罩的底端与下部光罩的底端共面，内光罩为透光结构或半透光结构，外光罩为非透光结构；光源环布于下部光罩的底端。使用本实用新型后，能够有效提高拍照的准确性，进而提高企业生产效率。

技术领域

本实用新型涉及自动检测分拣设备领域，尤其涉及一种自动光学检测装置。

背景技术

在现代化社会的今天，人们的工作和生活对硅片有着巨大的需求。无论是功率输变电、电力机车、整流、变频、机电一体化、节能灯、电视机等系列产品的芯片，还是太阳能电池、二极管、集成电路，都是现代生活中必不可少的物品的关键组成部分，因此硅片关乎着上述各物品的性能，对硅片的检测、分拣就显得十分重要。

硅片的处理量很大，因此采取人工进行硅片检测、分拣显然是不合适的。事实上，本行业现在基本采用的也是机器自动检测，通常做法是对生产线(或者检测线)上的硅片进行拍照，将所拍的照片与储存在处理器中标准件照片进行比对，进而确定硅片的等级对硅片进行后续分拣。

但是现有的自动分拣手段存在着如下的缺点：

1、现有技术通常在拍照过程中，有直接给光和间接给光两种给光方式，直接给光是指光源直接打光到硅片上，这种给光方式容易使硅片反射的光与环境对比太强烈进而导致拍照的照片效果不佳，间接给光是指在硅片附近设置反射物，光源将光打到反射物上再反射到检测物上，这种给光方式由于反射物是有限的，必然会造成有的地方没有设置反射物导致反射的光线不均匀，影响对硅片的拍照效果，最后影响分拣结果。

2、现有技术中拍照装置通常是一次安装固定死的，使得相机可能与硅片的位置有偏差，可能会导致对拍照结果的误判，影响产品的合格率。为了保证合格率企业可能会采用其他手段辅助分拣，增加企业的运营成本，降低企业的生产效率

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型提供一种自动光学检测装置，使用本实用新型后，能够有效提高拍照的准确性，进而提高企业生产效率。

本实用新型所采用的技术方案如下：

一种自动光学检测装置，其包括相机、光源，还包括外光罩，所述相机设于所述外光罩的上方，所述外光罩由上部光罩和下部光罩组成，所述上部光罩为穹顶结构，所述上部光罩的顶端开有供所述相机拍照的光罩拍照孔，所述下部光罩为环状结构，在所述下部光罩内部设置内光罩，所述内光罩的内壁为弧形，所述内光罩的底端直径比顶端直径小，所述内光罩的底端与下部光罩的底端共面，所述内光罩为透光结构或半透光结构，所述外光罩为非透光结构；所述光源环布于所述下部光罩的底端。

进一步特征在于：

所述相机与外光罩之间设置固定板，所述固定板上开设用于相机拍照的固定板拍照孔，所述相机的一侧固接推动板，在所述固定板和推动板之间固接滑动装置；

还包括外壳，所述外壳的内部由分隔板分为上室和下室，所述相机、所述固定板和所述滑动装置均设置于所述上室内，所述外光罩设置在所述下室内，所述固定板与分隔板之间至少通过一个立柱固接，所述分隔板上设有供所述相机拍照的分隔拍照孔；

所述固定板与每个立柱间分别设置有调整装置；

所述调整装置为碟形弹簧；

所述滑动装置由两个互为垂直布置的上拖板和下拖板固接而成，所述下拖板的底部与所述固定板固接，所述上拖板的顶部与所述推动板固接；