[实用新型]母板控制装置及老炼母板有效

专利信息
申请号: 201920245631.8 申请日: 2019-02-26
公开(公告)号: CN210005637U 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 刘军;吴扬;邓雅娉;张永强;刘雄剑 申请(专利权)人: 长沙南道电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 11270 北京派特恩知识产权代理有限公司 代理人: 吴薇薇;张颖玲
地址: 410100 湖南省长沙市经济技术开发*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 老炼 母板 母板电路板 控制装置 子板 控制电路板 发送控制信息 布线设计 测试需求 单独控制 检测信息 信号传输 控制器 电连接 多块 走线 芯片 申请
【说明书】:

本申请实施例公开了一种母板控制装置及老炼母板,母板控制装置包括:控制电路板,用于安装于母板电路板上且与母板电路板电连接;控制器,设置于控制电路板上,用于发送控制信息给对应的老炼子板并接收老炼子板对应的检测信息。设置于母板电路板上的一块或者多块老炼子板由母板控制装置控制,且母板控制装置具有单独的控制电路板,从而简化了母板电路板上的布线设计,减少了走线对信号传输的干扰,且能够通过对老炼子板的单独控制,满足了同一块老炼母板能提供不同温度且同时老炼不同芯片的测试需求。

技术领域

本申请涉及芯片老炼测试,具体涉及一种母板控制装置及老炼母板。

背景技术

芯片在出厂之前,一般需要进行老炼测试。老炼测试是指高温条件下对芯片施加电力应力与温度应力,加速导致早期失效机理发生的可靠性试验。通过加速电路失效的发生使良品尽早的进入其可靠性使用周期即浴盆曲线中部的偶然失效期,避免在使用早期发生故障。老炼测试是一种非破坏性的试验,只是对有潜在缺陷的电路起到诱发作用,而不引起电路整体筛选后的新失效机理或改变它的失效分布。且如果不经过老炼测试,很多半导体成品由于器件与制造工艺缺陷等原因在使用过程中会出现很多问题。因此,需要通过老炼系统对芯片做高温加速寿命试验,从而筛选出稳定可靠的芯片。

相关技术中,将多块待测试芯片放置于同一老炼板上,且将多块老炼板放在老炼温箱中统一加热,通过耐高温接插件、耐高温导线与老炼温箱外的电源与功能电路连接。当一块老炼板上放置多块芯片时,测试电路间的导线连接关系复杂、不稳定、极易出错,对信号传输有干扰,且针对不同的待测试芯片,无法满足单独控制的需求,兼容性差。

实用新型内容

有鉴于此,本申请实施例提供了一种母板控制装置及老炼母板,旨在实现对老炼母板上的老炼子板进行老炼测试,简化老炼母板上的导线设计。

本申请实施例的技术方案是这样实现的:

第一方面,本申请实施例提供一种母板控制装置,用于对设置于母板电路板上的至少一块老炼子板进行控制,所述母板控制装置包括:控制电路板,用于安装于所述母板电路板上且与所述母板电路板电连接;控制器,设置于所述控制电路板上,用于发送控制信息给对应的所述老炼子板并接收所述老炼子板对应的检测信息。

第二方面,本申请实施例提供一种老炼母板,包括母板电路板,所述母板电路板上设置前述实施例所述的母板控制装置。

本申请实施例提供的技术方案中,设置于母板电路板上的一块或者多块老炼子板由母板控制装置控制,且母板控制装置具有单独的控制电路板,从而简化了母板电路板上的布线设计,减少了走线对信号传输的干扰,且能够通过对老炼子板的单独控制,满足了同一块老炼母板能提供不同温度且同时老炼不同芯片的测试需求。

附图说明

图1为本申请一实施例中母板电路板的结构示意图;

图2为本申请一实施例中母板控制装置的结构示意图;

图3为本申请一实施例中老炼母板的结构示意图。

具体实施方式

以下结合说明书附图及具体实施例对本申请技术方案做进一步的详细阐述。应当理解,此处所提供的实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。另外,以下所提供的实施例是用于实施本申请的部分实施例,而非提供实施本申请的全部实施例,在不冲突的情况下,本申请实施例记载的技术方案可以任意组合的方式实施。

除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

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