[实用新型]一种面板检测的测试电路

说明书

一种面板检测的测试电路，包括比较器，第一电阻、第二电阻、时钟触发器、计数器、输出端；所述比较器输出端与第一电阻的一端连接，第一电阻的另一端通过第二电阻接地，第一电阻的另一端还与时钟触发器连接，所述时钟触发器与计数器连接，解决了面板测试中性能实时监测的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及液晶面板检测领域，尤其涉及一种将液晶面板进行检测的测试电路。

背景技术

在显示面板的可靠度检测实验中，实验炉内温度超过液晶可承受范围，使得液晶无法正常工作的情况下，需要人工进行观察panel的画面来确认其工作情况。在RA实验过程中，V-x talk现象会出现如下两种的情况:一种是出现时间长,次数少；而另一种是出现时间短,次数多，具体的现象示意图如附图中所示。对于第一种情况，相关同仁尚可凭借观测在日常工作中观察并记录现象，对于第二种情况，同仁可能会无法具体详细记录。因此为了在RA实验中具体监测Panel的实验状况。需要提供一种新型的检测方法及装置。

发明内容

为此，需要提供一种能够进行不同的Panel的VGL状态检测，反映Panel状态并使其能够被更好地记录的方法，

为实现上述目的，发明人提供了一种面板检测的测试电路，包括比较器，第一电阻、第二电阻、时钟触发器、计数器、输出端；

所述比较器输出端与第一电阻的一端连接，第一电阻的另一端通过第二电阻接地，第一电阻的另一端还与时钟触发器连接，所述时钟触发器与计数器连接，

所述比较器包括基准电压输入端、待测电压端，所述待测电压端与面板的驱动电压连接。

区别于现有技术，上述技术方案通过设计上述电路，能够在试验中通过抓去面板相关的各路电压(例如：VIN等于VSP,VSN等)来了解并监测Panel的实际情况。

附图说明

图1为背景技术所述的RA实验的面板V-x talk现象示意图；

图2为具体实施方式所述的Panel在实验过程中的VGL shift变化示意图；

图3为具体实施方式所述的面板检测电路图；

图4为具体实施方式所述的电路原理及波形示意图。

具体实施方式

为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。

一种面板检测的测试电路，如图3所示，包括比较器，第一电阻、第二电阻、时钟触发器、计数器、输出端；

所述比较器输出端与第一电阻的一端连接，第一电阻的另一端通过第二电阻接地，第一电阻的另一端还与时钟触发器连接，所述时钟触发器与计数器连接，

所述比较器包括基准电压输入端、待测电压端，所述待测电压端与面板的驱动电压连接。

如图中所示，左侧的比较器中，两输入端分别接入VREF和VIN，使能端分别接入工作电压VCC和0V电压或接地或负电压。其中，①VREF为可调的基准电压；根据实际操作的需要，用户可以进行设置，如设置为0.7V～3V之间等等，一般需要低于正常面板的VGL电压值，同时，VIN为需要测量的电压，如可以直接将Panel的VGL电压值进行输入；这样当VGL电压随着实验温度升高之后，如果出现掉电，则比较器就会发生反转，从而反映在输出信号上，图中的VCC为比较器的工作电压，在具体的实施例中，用于控制D flip-flop(电压触发器)的input电平，根据如下公式，

VCC*R2/(R1+R2)。

可以将电压触发器的输入电平根据需要设置，优选地可以设置为0～3.3V，