[实用新型]一种法兰同轴装置的支架结构

说明书

本实用新型涉及一种法兰同轴装置的支架结构，属于防电磁辐射性能测试设备技术领域。技术方案是：使用测试架：两个试样槽（7）内分别匹配设有测试架压片一和测试架压片二，测试架压片一外围设有多个均匀分布的穿针，测试架压片二上设有与多个穿针匹配的多个针孔；使用纱线架：两个试样槽（7）内分别匹配设有两个相同的纱线架（9），纱线架左、右对边分别设有间隔均匀的多个左绕线豁口和右绕线豁口；纱线架上、下对边分别设有间隔均匀、相错排列的两排上绕线豁口和两排下绕线豁口。本实用新型能够同时测试一层或多层软、硬性材料；对测试材料的厚度要求较为宽泛、加持力度更大；对软性测试材料的把持更加自然平整；能够避免对测试员的伤害。

技术领域

本实用新型涉及一种法兰同轴装置的支架结构，用于纺织品（织物、纱线之织物仿真模型）的防电磁辐射性能测试，属于防电磁辐射性能测试设备技术领域。

背景技术

目前，国内外有多种防电磁辐射性能测试方法，其中对于纺织品防电磁辐射性能的测试方法包括近场法、远场法和屏蔽室测试法三大种。近场法要有改进的MIL-STD-285法和ASTM-ES-双盒法；远场法主要有法兰同轴法和ASTM-ES-7同轴传输线法；屏蔽室法即非近场亦非远场，而是介于两者之间的方法。

考虑到日常及工业中人们实际所处的电磁场环境特征，屏蔽室法、同轴传输线法、法兰同轴法较适合实际测试需求。但屏蔽室法的测试结果易受抗电磁辐射织物与屏蔽室连接处的电磁泄漏影响，且该设备较为昂贵；同轴传输线法测试的结果易受材料与同轴传输装置的接触阻抗的影响，重复性较差。故二者不太适合防电磁辐射纺织品的防辐射性能测试，而法兰同轴法作为美国国家标准局推荐的一种测量防电磁辐射性能的方法，其测试原理快速简便，测试的动态范围稍宽，测试过程能量损失小，且不需要建立昂贵的屏蔽室及其他辅助设备，更为重要的是测试重复性较好，非常适合防电磁辐射纺织品的防辐射性能测试。

而对于现有的法兰同轴测试方法及其测试仪器，例如中国专利ZL200910074176.0，在纺织品防电磁辐射性能的测试过程中或多或少存在如下问题和缺陷：

1.织物架适合测试织物的厚度范围为0-3mm，不符合法兰同轴测试材料厚度范围为0-5mm，测试材料的厚度范围有一定的局限性。

2.纱线架的凹槽密度较小，且凹槽密度较大的纱线架对边的凹槽壁较薄，在测试应用中凹槽壁出现倒塌粘合现象，使得织物仿真模型的纱线排料密度小且不易将纱线穿入凹槽形成织物仿真模型，不能够指导具有较高屏蔽效能织物的设计与研发，使得指导生产出来的织物的防电磁辐射性能不能够全部满足日常和工业电磁辐射环境下的应用标准。

3.织物架通过压环将测试织物固定于织物架的环形凹槽内，由于压环与凹槽的嵌入力度不够，不能够很好地保持软性织物的自然平展状态，最终影响测试数据。

4.测试织物时，由于受织物架的压环与环形凹槽的嵌入力度和织物架适合测试织物厚度范围的影响，只能一次放入一层织物。局限了不同高电磁辐射环境下的防电磁辐射制品的设计。

5.同轴支架为手动，即手推支架实现同轴心腔体的开合，导致测试人员测试时费时费力，且与测试装置近距离接触，增大了测试者受电磁辐射危害的几率。

6.同轴支架对同轴心腔体没有固定作用，一方面，若测试时将缠绕纱线的两片纱线架先分别放于同轴心腔体试样凹槽内，同轴心腔体进行合对时，避免不了同轴心腔体会有所移动和转动，导致不能确保织物仿真模型两组纱线为垂直交叉的状态；另一方面，若测试时将织物仿真模型用销子先固定于固定不动的同轴心腔体试样凹槽内，同轴心腔体进行合对时，由于支架震动和两个同轴心腔体合并撞击，有时避免不了纱线架会脱落，导致不能顺利进行测试。

实用新型内容