[实用新型]自动式机械冲击振动测试装置

说明书

本实用新型提供了一种自动式机械冲击振动测试装置，所述装置包含：电磁吸附模块、冲击杆、固定模块和控制芯片；所述固定模块包含框体和底座，所述框体与所述底座组合构成所述自动式机械冲击振动测试装置的测试空间；所述冲击杆一端设置有金属构件，另一端用于提供冲击测试放置于所述底座上的待测物；所述电磁吸附模块设置于所述框体上，用于在通电时提供磁吸附力抬高所述冲击杆，在断电时消除磁吸附力降低所述冲击杆执行冲击测试；所述控制芯片与所述电磁吸附模块相连，用于控制所述电磁吸附模块通断电，以及通过控制通电时间消除电磁吸附模块的磁滞效应。

技术领域

本实用新型涉及电子测量领域，尤指一种自动式机械冲击振动测试装置。

背景技术

随着电子信息工业的发展，触控屏等电子设备的复用率已成为业内人员考察其价值的重要指标，为检测该些电子设备的复用率，自动式机械冲击振动测试装置应运而生；自动式机械冲击振动测试装其主要用途在于模拟用户手动触碰触控屏，以此检测触碰屏的识别精度及损耗等问题；

当前电子产品测试中，针对杆形零件自由下落的冲击振动测试装置没有高实用性、高效率的解决方案；现有的电磁铁方案可以实现对球体的单次落下冲击，但是需要手动操作进行下一次实验。当需要测试某些电子元件的触碰反应时，通常需要执行成千上万次触碰控制，为此，传统的手动操作明显较为繁琐，给工作人员带来极大的工作量；同时传统的冲击振动设备因采用液压机械臂式结构，对其各零部件键精密程度及整体设备维护成本均较高，极大的限制了自动式机械冲击振动测试装置的推广使用，

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种效率较高的且使用较为方便的自动式机械冲击振动测试装置。

为达上述目的，本实用新型所提供的自动式机械冲击振动测试装置具体包含：电磁吸附模块、冲击杆、固定模块和控制芯片；所述固定模块包含框体和底座，所述框体与所述底座组合构成所述自动式机械冲击振动测试装置的测试空间；所述冲击杆一端设置有金属构件，另一端用于提供冲击测试放置于所述底座上的待测物；所述电磁吸附模块设置于所述框体上，用于在通电时提供磁吸附力抬高所述冲击杆，在断电时消除磁吸附力降低所述冲击杆执行冲击测试；所述控制芯片与所述电磁吸附模块相连，用于控制所述电磁吸附模块通断电，以及通过控制通电时间消除电磁吸附模块的磁滞效应。

在上述自动式机械冲击振动测试装置中，优选的，所述装置还包含限位滑块和横板；所述横板设置于所述框体预定位置，且所述横板上设置有通槽，所述冲击杆通过所述通槽穿过所述横板；所述限位滑块设置于所述冲击杆上，用于通过所述横板卡合限定所述冲击杆的下降距离。

在上述自动式机械冲击振动测试装置中，优选的，所述装置还包含光轴导轨和竖板；所述光轴导轨用于将所述冲击杆限定于预定位置；所述竖板包覆于所述光轴导轨外侧，用于通过横板将所述光轴导轨固定于预定位置。

在上述自动式机械冲击振动测试装置中，优选的，所述装置还包含配重块；所述配重块安设于所述冲击杆上，用于为所述冲击杆提供配重。

在上述自动式机械冲击振动测试装置中，优选的，所述控制芯片为STM32单片机。

在上述自动式机械冲击振动测试装置中，优选的，所述冲击杆用于冲击测试端与所述底座上的待测物之间距离为0mm至41mm。

在上述自动式机械冲击振动测试装置中，优选的，所述框体包含盖板和至少两根立柱；所述盖板与所述立柱一端相连，构成凹形框体，所述凹形框体盖扣于所述底座上；所述立柱另一端垂直安设于所述底座上，且所述立柱上预定位置设置有沟槽，所述沟槽卡合所述横板。

本实用新型所提供的自动式机械冲击振动测试装置给出了一种实现标准落杆冲击测试的自动化方案，通过控制上电时间消除磁路的磁滞效应与重复下落的等待时间，可用于一般类小型电子产品如触摸屏、触控板等的标准冲击测试。

附图说明