[实用新型]一种微波基片自动检测系统

权利要求书

1.一种微波基片自动检测系统，其特征在于，所述系统包括：

图像采集模块，获取待检测基片的样本图像；

图像处理模块，对所述样本图像进行预处理，获取所述样本图像的中心点位置；

控制模块，将所述中心点位置转换成用于控制机械臂移动的机械臂坐标，控制机械臂将所述待检测基片置于谐振环上；

数据分析模块，依据谐振环在覆盖待检测基片前后S散射矩阵的S参数的四个相位的变化计算所述待检测基片的损耗角正切和相对介电常数并将分析的信息传输至判断模块，所述判断模块接收并响应所述数据分析模块分析的信息，其中判断模块，根据所述损耗角正切和相对介电常数判断所述待检测基片是否合格。

2.根据权利要求1所述微波基片自动检测系统，其特征在于，所述图像采集模块包括工业摄像头。

3.根据权利要求2所述微波基片自动检测系统，其特征在于，所述工业摄像头包含采用USB2.0工业摄像头，传动带包含微型传送带，其中工业摄像头用于拍摄待检测基片，获取待检测基片的样本图像，所述传送带将待检测基片运到制定位置，所述工业摄像头拍摄待检测基片的图像，获取待检测基片的样本图像。

4.根据权利要求1所述微波基片自动检测系统，其特征在于，所述谐振环的谐振频率为1575MHz，介电常数为4.4，损耗角正切值为0.02，厚度为1.6mm的FR4板材制成。

5.根据权利要求4所述微波基片自动检测系统，其特征在于，所述谐振环包含微带折叠谐振环，其具有两端微带传输线和一个H型环。

6.根据权利要求5所述微波基片自动检测系统，其特征在于，微带折叠谐振环为对称结构，其采用两端微带线馈电结构。

7.根据权利要求5所述微波基片自动检测系统，其特征在于，所述H型环包含微带传输线和多个半圆环。

8.根据权利要求1所述微波基片自动检测系统，其特征在于，还包含同轴线其一端连接谐振环，另一端连接矢量网络分析仪，用以提供计算机与矢量网络分析仪间局域网的发送/接收数据。

9.根据权利要求1所述微波基片自动检测系统，其特征在于，

所述机械臂包含与其活动连接的末端吸盘，其依据所述图像处理模块预估的基片的中心点位置将待检测基片置于谐振环上。

10.根据权利要求9所述微波基片自动检测系统，其特征在于，所述吸盘通过管路连接气泵，在抓取基片时抽真空形式吸附所述基片。