[实用新型]一种测试治具

说明书

一种测试治具，其包括：基座，所述基座上设有载板；所述载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽；所述第一容置槽和所述第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面，所述连通平面使所述转接板的输入端和所述待测板件的测试端处于同一平面内；探针组件，设于所述载板上并与所述转接板的输出端导通连接；以及测试组件，与所述探针组件导电连通，并对所述待测板进行测试。

技术领域

本实用新型涉及电子器件的检测技术领域，具体涉及一种测试治具。

背景技术

随着电子产业的飞速发展，电子产品在制造过程中均需要进行严格的测试，电子产品的测试通常是将电子产品连接至插接与测试主机的转接板测试卡，通过电子产品与测试机之间的通信实现测试。

由于测试过程中转接板需要频繁连接待测板件，因此转接板的连接端的损耗较大，从而造成转接板的使用寿命较短，更换频率较高，从而带来了产能的下降。现有测试治具中转接板与待测板件连接的输入端通常为悬空设置于待测板件的安装槽开口处，使其与位于安装槽内的待测板件导电接通，因此当操作人员取放待测板件时，待测板件进入或者移出过程中易带动转接板产生上下方向的弯折，从而产生损耗，降低了其使用寿命。

实用新型内容

因此，本实用新型要解决的技术问题在于克服现有技术中的测试治具中对转接板和待测板件的连接处缺乏使其处于同一平面内的有效支撑，易导致转接板的连接端损坏的缺陷，从而提供一种测试治具。

为此，本实用新型的技术方案如下：

一种测试治具，其包括：

基座，所述基座上设有载板；所述载板上设有分别容纳转接板和待测板件的第一容置槽和第二容置槽；所述第一容置槽和所述第二容置槽之间设有允许其内的转接板和待测板件接通的连通平面，所述连通平面使所述转接板的输入端和所述待测板件的测试端处于同一平面内；

探针组件，设于所述载板上并与所述转接板的输出端导通连接；

以及测试组件，与所述探针组件导电连通，并对所述待测板进行测试。

进一步地，所述第一容纳槽上还设有压板，所述压板将所述转接板压置固定于所述第一容置槽中。

进一步地，所述压板与所述载板活动连接。

进一步地，所述压板通过螺栓固定于所述载板上。

进一步地，所述压板的一端与所述载板枢接，另一端通过锁紧件与所述载板活动连接。

进一步地，所述锁紧件包括设于所述压板和所述载板其中一个上的卡扣，以及设于另一个上的与所述卡扣配合的卡槽。

进一步地，所述压板上与所述转接板接触的表面还设有防护层。

进一步地，所述第一容置槽和/或所述第二容置槽内设有对其内的板件进行定位的定位销。

进一步地，所述测试治具还包括下压组件，所述下压组件将所述待测板件压置于所述第二容置槽中，并使所述待测板件的测试端与所述转接板的输入端保持导通连接。

进一步地，所述测试治具为I CT测试治具。

本实用新型技术方案，具有如下优点：