[发明专利]焊点测试结构及其测试方法

权利要求书

1.一种焊点测试结构，用于测试芯片与PCB板之间的焊接引脚，其特征在于，包括：

信号发送模组，用于产生并发送测试信号至第一焊接引脚；

传输链路模组，用于将所述测试信号从第一焊接引脚传输至所述测试分析模组，并根据所述焊点的阻值，产生相应的信号传输延迟；

测试分析模组，用于测试所述信号传输的延迟时间，并根据所述延迟时间和传输链路模组中的元件参数，获取测试焊点的阻值。

2.根据权利要求1所述的焊点测试结构，其特征在于，所述传输链路模组包括外部传输链路，用于传输所述测试信号，并产生信号传输延迟，所述外部传输链路包括：

焊点短接线，设于待测试的第一焊接引脚和第二焊接引脚之间，用于传输测试信号；

电容，所述电容的一端与所述焊点短接线连接，另一端接地，所述电容与测试焊点的寄生电阻共同产生信号传输延迟。

3.根据权利要求2所述的焊点测试结构，其特征在于，所述焊点测试结构还包括：

内部传输链路，设于第一焊接引脚与多路复用器的第一输入端之间；

多路复用器，所述多路复用器的第一输入端连接所述内部传输链路的第一焊接引脚，第二输入端连接所述外部传输链路的第二焊接引脚，所述多路复用器的输出端连接所述测试分析模组的输入端。

4.根据权利要求3所述的焊点测试结构，其特征在于，所述测试分析模组包括：

与门，所述与门的第一输入端连接所述信号发送模组的输出端，第二输入端连接所述传输链路模组的输出端，所述与门的输出端连接延迟测试模块的输入端；

延迟测试模块，用于测试并输出所述信号传输的延迟时间。

5.根据权利要求4所述的焊点测试结构，其特征在于，所述延迟测试模块包括：

延时链，所述延时链包括多个串行设置的延时单元；

寄存器组，所述寄存器组包括多个寄存器，所述寄存器与所述延时单元一一对应，用于锁存相应延时单元的输出数据；

数据转换器，与所述寄存器组连接，用于将所述寄存器组锁存的数据转换为信号传输的延迟时间。

6.根据权利要求5所述的焊点测试结构，其特征在于，所述测试分析模组包括至少两个并行设置的所述延迟测试模块，所述测试分析模组还包括：

数据融合模块，与所述至少两个延迟测试模块连接，用于接收所述至少两个延迟测试模块输出的延迟时间，并根据所述延迟时间和设定的计算逻辑，获取加权延迟时间；

判定模块，用于根据所述加权延迟时间和预设的时间阈值，输出相应的判定信号。

7.根据权利要求4所述的焊点测试结构，其特征在于，所述延迟测试模块包括：

延时链，所述延时链包括多个串行设置的延时单元；

寄存器组，所述寄存器组包括多个寄存器，所述寄存器与所述延时单元一一对应，用于锁存相应延时单元的输出数据；

数据监测器，用于监测设定的寄存器的锁存数据，并根据所述监测结果输出相应的信号。

8.根据权利要求5～7任一项所述的焊点测试结构，其特征在于，所述延时单元采用反相器电路、缓存器电路、进位链电路和逻辑门电路中的一种。

9.根据权利要求1所述的焊点测试结构，其特征在于，所述信号发送模组发送的测试信号为设定的序列信号。

10.一种焊点测试方法，包括：

校准延时链，获取延时测量矩阵；

激活内部传输链路，获取测试信号的内部延迟时间；

激活外部传输链路，获取测试信号的外部延迟时间；

根据所述内部延迟时间和外部延迟时间，获取焊点延迟时间；

根据所述焊点延迟时间，获取焊点阻值。

11.根据权利要求10所述的焊点测试方法，其特征在于，所述获取焊点延迟时间的步骤后，还包括：

预设一时间阈值；

比较所述焊点延迟时间与时间阈值，若所述焊点延迟时间大于时间阈值，输出预警信号，否则重复所述获取内部延迟时间、外部延迟时间和焊点延迟时间的步骤。