[发明专利]获取颗粒捕捉装置的分量数据的方法、装置和电气设备

权利要求书

1.一种应用于电气设备的颗粒捕捉装置，其特征在于，所述颗粒捕获装置为位于电气设备内部的伞形结构，所述伞形结构至少包括：

伞面，所述伞面为圆形薄板结构，且所述伞面与水平面平行；

至少一个支柱，所述支柱的支撑点一端支撑于所述伞面的中心处，另一端与外壳相连。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述支柱的支撑点位于所述电气设备的外壳内表面最低点处，且位于导体中轴线的垂直平面内。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述圆形薄板与设备外壳同电位，形成了用于捕获颗粒的低电场区域，且没有减小所述电气设备的绝缘距离。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，从入口处的中间位置水平通过的各个电场的分布规律相同，其中，所述入口处的中间位置为所述伞面的下底面距外壳底面的中点位置。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的装置，其特征在于，每个电场轨迹的水平方向和垂直方向的电场强度分布规律均为所述入口处的电场强度高，所述颗粒捕捉装置的内部电场为0值，且水平方向上的电场强度在两边入口处具有不同方向，竖直方向的电场强度在两边入口处具有相同的方向。

6.根据权利要求1至4中任意一项所述的装置，其特征在于，所述颗粒捕捉装置从所述入口处到中心位置的电场强度呈线性规律下降，其中，

当所述电气设备上施加正弦变化的交流电压时，所述颗粒捕获装置周围的颗粒受到重力的分量、电场力以及摩擦力的合力作用向颗粒中心运动；

当所述电气设备的内导体电压为负值时，电场力方向反方向改变。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，如果颗粒运动到的位置所受到的电场力的大小小于颗粒运动开始时所受到的电场力，所述颗粒向所述颗粒捕获装置中心运动的速度减慢，且所述颗粒向所述颗粒捕获装置中心的运动方向不变，直至所述颗粒被所述颗粒捕获装置捕获。

8.根据权利要求1至4中任意一项所述的装置，其特征在于，所述颗粒捕获装置出口处在水平方向上的电场强度E_x越大，所述入口处到所述中心处的电场强度的变化率越大。

9.一种获取颗粒捕捉装置的分量数据的方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1至8中任意一项所述的电气设备的颗粒捕捉装置，其中，所述方法包括：

获取所述颗粒捕获装置内部的电场强度的变化值；

基于所述颗粒捕获装置内部的电场强度的变化值，分析所述颗粒捕获装置内部在不同方向上的电场强度分量；

基于所述不同方向上的电场强度分量，确定至少一个分量数据，其中，所述分量数据用于评估所述颗粒捕获装置的捕获效果。

10.一种获取颗粒捕捉装置的尺寸参数的方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1至8中任意一项所述的电气设备的颗粒捕捉装置，其中，所述方法包括：

基于所述颗粒捕获装置的圆形薄板的直径和所述支柱在不同尺寸下的电场强度，确定所述颗粒捕获装置的尺寸参数。