[发明专利]目标检测方法、装置、设备、介质

说明书

公开了目标检测方法、装置、设备、介质。所述方法包括：确定用于待检测图像的一维特征表示；对所述一维特征表示进行目标检测，以得到所述一维特征表示的一维目标检测结果；基于所述一维目标检测结果确定所述待检测图像中存在的目标以及该目标的位置。

技术领域

本申请涉及图像处理领域，更具体地涉及一种目标检测方法、装置、设备、介质。

背景技术

二维全景图像可以用二维的方式展示360°的全景信息。可以利用全景相机获取二维的全景图像。基于所获取的二维全景图像，可以通过电子设备直接显示平面的全景图像或者基于全景图像生成对应的三维模型，并以三维的方式显示所生成的模型。

全景图像可以向用户提供360°视角内的所有场景信息。为了能够展示全部的场景信息，二维的全景图像中展示的物体和场景存在一定程度上的变形。

发明内容

根据本申请的一方面，提出了一种目标检测方法，包括：确定用于待检测图像的一维特征表示；对所述一维特征表示进行目标检测，以得到所述一维特征表示的一维目标检测结果；基于所述一维目标检测结果确定所述待检测图像中存在的目标以及该目标的位置。

在一些实施例中，所述一维目标检测结果指示所述一维特征表示中每个元素对应的待检测图像中的像素点属于预定类别的目标的概率。

在一些实施例中，确定用于待检测图像的一维特征表示包括：利用包括至少一个卷积层和至少一个池化层的卷积神经网络对所述待检测图像进行处理，以得到所述待检测图像的图像特征；将所述待检测图像的图像特征确定为所述一维特征表示；其中，所述待检测图像的尺寸为H×W，所述图像特征的尺寸为1×W，其中H是所述待检测图像在高度方向上的像素个数，W是所述待检测图像在宽度方向上的像素个数，所述一维特征表示中的每个元素对应于所述待检测图像中一列像素点。

在一些实施例中，对所述一维特征表示进行目标检测包括：利用LSTM网络对所述一维特征表示进行处理，以得到所述一维特征表示的检测特征；利用全连接层对所述检测特征进行处理，以得到所述一维特征表示的一维目标检测结果，其中所述一维目标检测结果指示一维特征表示中每个元素属于预定的多个类别的目标的分数。

在一些实施例中，基于所述一维目标检测结果确定所述待检测图像中存在目标以及该目标的位置包括：该元素的最高分数，并将该元素确定为属于具有最高分数的预定类别的目标；基于所述一维特征表示中属于所述目标的各元素的位置确定所述待检测图像中的目标的尺寸和位置。

在一些实施例中，所述待检测图像是二维全景图像，所述二维全景图像对应于三维空间，所述三维空间通过所述三维空间的墙面和地面形成为至少部分封闭。

在一些实施例中，所述目标是所述三维空间中墙面上存在的对象。

在一些实施例中，确定用于待检测图像的一维特征表示包括：在所述三维空间中的至少一个方向上对所述待检测图像进行缩放，以确定缩放后的待检测图像；利用包括至少一个卷积层和至少一个池化层的卷积神经网络对所述缩放后的待检测图像进行处理，以得到所述缩放后的待检测图像的图像特征；将所述缩放后的待检测图像的图像特征确定为所述一维特征表示；其中，所述缩放后的待检测图像的尺寸为H×W，所述图像特征的尺寸为1×W，其中H是所述缩放后的待检测图像在高度方向上的像素个数，W是所述缩放后的待检测图像在宽度方向上的像素个数，所述一维特征表示中的每个元素用于表示所述缩放后的待检测图像中一列像素点。

在一些实施例中，所述至少一个方向包括平行于所述地面的水平方向和垂直于所述地面的竖直方向。

在一些实施例中，在确定用于待检测图像的一维特征表示之前，所述方法还包括：对所述待检测图像进行垂直校正，以使得校正后的待检测图像中的地面平行于水平线。