[发明专利]一种基于平板对称结构的折射率传感器

权利要求书

1.一种基于平板对称结构的折射率传感器，其特征在于：包括基底，基底上设置有二聚体结构的金属纳米结构，金属纳米结构包括两个沿横向间隔设置的且沿纵向对称设置的金属纳米线单元，各金属纳米线单元均包括沿纵向间隔设置的两个横向金属纳米线和连接于两个横向金属纳米线之间的竖向金属纳米线，各金属纳米线单元的竖向金属纳米线和两个横向金属纳米线之间形成“工”字形结构，各金属纳米线单元的竖向金属纳米线上横向设置有朝向另一个金属纳米线单元靠近并延伸的中间金属纳米线，各条金属纳米线的宽度均相等；所述基底上两个金属纳米线单元之间的间隙为20nm，各条金属纳米线的宽度均为30nm，所述金属纳米结构的厚度为10nm，各所述横向金属纳米线的长度为90-260nm，各所述中间金属纳米线的长度为20-140nm，各所述纵向金属纳米线的长度为90nm。