[发明专利]基于X射线技术的局部破损检测方法

说明书

本发明涉及基于X射线技术的局部破损检测方法，该检测方法包括步骤有透前准备工序、划线编号工序、现场透照工序和评片工序。与现有技术相比，本发明的有益效果为整机具有安全锁，防止误操作，具有延时曝光功能，可以使工作人员免受辐射，同时曝光时间与休息时间严格按照1:1，具有自动训机功能，给予人们充足的离开暗室时间，进一步避免工作人员遭受辐射的可能，微机控制X射线探伤机，具有结构新颖，携带方便，稳定性好等特点，控制台采用了最选进的微型计算机控制技术，采用模块化结构，具有齐全的保护功能，抗干扰能力强，各种参数设定，工作状态，保护动作都有语音提示，方便了用户使用，避免了各种误操。

技术领域

本发明涉及临床医学、眼科技术领域，具体为基于X射线技术的局部破损检测方法。

背景技术

X射线能在无损检验技术中得到广泛应用的主要原因是：它能穿透可见光不能穿透的物质；它在物质中具有衰减作用和衰减规律；它能对某些物质发生光化学作用、电离作用和荧光现象。而且这些作用都将随着X射线强度的增加而增加。X射线探伤是利用X射线可以穿透物质和在物质中具有衰减的特性，发现缺陷的无损检测方法。X射线的波长很短一般为0.001～0.1nm。X射线以光速直线传播，不受电场和磁场的影响，可穿透物质，在穿透过程中有衰减，能使胶片感光。

局部破损检测方法在检测过程中易发生对加工人员进行曝光，导致工作人员遭受辐射侵害，并且在使用中可能发生非专业人员工作，导致设备损坏的可能，为此，我们提出基于X射线技术的局部破损检测方法。

发明内容

本发明的目的在于提供基于X射线技术的局部破损检测方法，以解决上述背景技术中提出的局部破损检测方法在检测过程中易发生对加工人员进行曝光，导致工作人员遭受辐射侵害，并且在使用中可能发生非专业人员工作，导致设备损坏的可能问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：基于X射线技术的局部破损检测方法，该检测方法包括步骤有透前准备工序、划线编号工序、现场透照工序和评片工序。

优选的，所述透前准备工序具体包括有暗房、训机、X射线机和工件。

优选的，所述划线编号工序具体包括有标记记录、损伤标记和工件贴号。

优选的，所述损伤标记包括有根据工件尺寸依次排列，通过贴标签的方式，对工件进行标记，同时根据工件尺寸剪裁底片。

优选的，所述现场透照工序包括有配置显影、定影液，按规定裁片以及装片，现场透照包括焊口透照位置的标定、检验标记、射线源的摆放及调整、贴片、胶片选择、增感屏选择、X射线能量的选择、散射线的屏蔽和透照。

优选的，所述现场透照工序中具体包括有：

1)、将待检测工件摆放在刻度平台上对好平面焦距，贴上胶片；

2)、整机具有安全锁，通过身份认证，满足核实需求；

3)、整机调整：曝光时间与休息时间严格按照1:1；工作过程，故障指示采用语音提示、LED显示即使调整；

4)、透照程序中，曝光时，作业人员应划出安全防护区，设立警戒标志，严禁非工作人员进入辐射区；

5)、开启高压开关，进行曝光，透照结束后整理好已曝光和未曝光的片子分类、贴上标签保存。

优选的，所述评片工序：缺陷在射线束方向的厚度鉴定、测量缺陷估值，对应给予评定。

与现有技术相比，本发明的有益效果如下：