[发明专利]一种磁光测试装置

权利要求书

1.一种磁光测试装置，其特征在于：包括间隔设置的第一电极机构和第二电极机构，第一电极机构和第二电极机构之间具有形成磁场的容纳空间，在该容纳空间内设置有测试组合机构；测试组合机构包括测试基座和测试基座上的组件，测试基座可旋转的固定在第一电极机构和第二电极机构之间，组件包括耦合光纤探头、反射镜和非球面镜，耦合光纤探头、反射镜和非球面镜呈品字形布置，并且形成由耦合光纤探头引出经反射镜反射后到达非球面镜的光路，在非球面镜的外侧位于光路射出侧设置有承载样品的样品托。

2.根据权利要求1所述的一种磁光测试装置，其特征在于：第一电极机构具有电极底座，电极底座上设置有水平调节机构，水平调节机构上设置有磁场电极，第二电极机构与第一电极机构对称设置。

3.根据权利要求1所述的一种磁光测试装置，其特征在于：还包括装置基座，第一电极机构、第二电极机构和测试组合机构均设置于装置基座上。

4.根据权利要求1所述的一种磁光测试装置，其特征在于：测试基座包括固定基座和转动基座，固定基座固定于第一电极机构和第二电极机构之间，转动基座通过转动结构可转动地设置于固定基座上，耦合光纤探头、反射镜和非球面镜均位于转动基座上。

5.根据权利要求1所述的一种磁光测试装置，其特征在于：测试基座设置有耦合支架、反射支架和透射支架，耦合光纤探头、反射镜和非球面镜分别设置于耦合支架、反射支架和透射支架上，耦合支架、反射支架和透射支架呈品字形布置，透射支架外侧设置样品架，样品架上设置样品托。

6.根据权利要求1所述的一种磁光测试装置，其特征在于：耦合光纤探头连接有光纤组。

7.根据权利要求1所述的一种磁光测试装置，其特征在于：测试基座配合设置确定角度的刻度结构。

8.根据权利要求1所述的一种磁光测试装置，其特征在于：转动结构为轴承结构。

9.根据权利要求1所述的一种磁光测试装置，其特征在于：转动基座套设于固定基座上，固定基座顶部和转动基座具有容纳空间，在固定基座顶部设置有齿条，在转动基座侧壁开设有调节窗口，调节窗口内设置有与齿条配合的调节轮，调节轮一侧与齿条配合，一侧暴露于转动基座侧壁外；齿条上设置有主标尺，转动基座上与标尺对应处开设有观察窗口；转动基座内顶部设置有辅标尺结构，辅标尺结构包括固定于转动基座内顶部的转轴，转轴下部设置有与齿条内侧配合的内齿轮，转轴上部设置有标尺轮，标尺轮在内齿轮的带动下同轴转动；观察窗口覆盖所述标齿轮。

10.根据权利要求1所述的一种磁光测试装置，其特征在于：固定基座下部设置有卡槽，转动基座内壁设置有卡环，固定基座通过卡环和卡槽配合限制为一体。