[发明专利]一种超低压损的高精度质量流量计分析方法及应用

权利要求书

1.一种超低压损的高精度质量流量计分析方法，其特征在于，所述超低压损的高精度质量流量计分析方法包括以下步骤：

第一步，设置边界条件，边界条件为入口和出口内表面，进行仿真分析；

第二步，运用流体分析模块分析得到压力分布云图，对两种流道压损云图比较；

第三步，计算总压损，分析压损压力分布云图，对比较的结果进行计算。

2.如权利要求1所述的超低压损的高精度质量流量计分析方法，其特征在于，所述第一步的设置边界条件包括：对流道进行设置，大面积口为入口，小口为出口，介质为纯水，模型内部表面光滑，入口流速为5m/s，出口压力为101KPa。

3.如权利要求1所述的超低压损的高精度质量流量计分析方法，其特征在于，所述第三步的总压损计算：436379-89763.4＝346615.6Pa。

4.如权利要求3所述的超低压损的高精度质量流量计分析方法，其特征在于，在相同的条件下将流道改为渐开线流道，分析压损压力分布云图。

5.如权利要求1所述的超低压损的高精度质量流量计分析方法，其特征在于，所述第三步压损计算＝269991-99484.7＝170506.3Pa。

6.如权利要求1所述的超低压损的高精度质量流量计分析方法，其特征在于，所述超低压损的高精度质量流量计分析方流量计分流体属于异形结构，采用熔模铸造的方式生产。

7.一种如权利要求1～6任意一项所述超低压损的高精度质量流量计分析方法在管道集输的弯头中的应用。