[发明专利]一种基于ATE的芯片动态负载测试方法有效
| 申请号： | 201911396747.2 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN111090036B | 公开（公告）日： | 2022-01-25 |
| 发明（设计）人： | 崔孝叶;王华;季海英;王静;周建青 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人： | 宋振宇 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate 芯片 动态 负载 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于ATE的芯片动态负载测试方法，其特征在于：采用VOH/VOL静态测试方法，静态测试时，芯片的所有输出管脚被预置到要求的输出逻辑状态，VOH预置为1，VOL预置为0，测试机的PMU单元通过内部继电器的切换连接到待测的输出管脚，接着在输出管脚上加对应方向的负载电流，测量此时管脚上的电压值，并与芯片要求的驱动能力范围相比较，如果测量值低于VOH/高于VOL，则判不合格，J750上选择PPMU资源，一次并行完成所有的输出管脚的测试；
芯片加负载电流的方式，一部分负载电流通过PMU单元加入，limit参考PPMU Specs，另一部分通过Pin Levels sheet设置，Pin Levels在IO pin设置时，通过设置电流源、电流陷和门限电压，加入另一部分负载电流，最后测试芯片驱动能力依然是使用PPMU并行测试。
2.如权利要求1所述的基于ATE的芯片动态负载测试方法，其特征在于：基于PPMU在force current有限制，当芯片要求的负载电流大于PPMU电流的极限值，芯片VOH/VOL参数无法并行测试，改为选择BPMU串行测试。
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