[发明专利]电路异常诊断装置、电路异常诊断方法及计算机可读取介质

权利要求书

1.一种电路异常诊断装置，包括：

驱动电路，该驱动电路驱动外部负载，并且与外部负载、第1诊断电路、第2诊断电路、第1电流监控电路、第2电流监控电路、第3电流监控电路连接；

外部负载，该外部负载的一端与所述驱动电路、第1诊断电路、第2诊断电路、第1电流监控电路、第2电流监控电路、第3电流监控电路连接，该外部负载的另一端与第1电压源连接；

第1诊断电路，该第1诊断电路与所述驱动电路、外部负载连接，并且向中央处理器的存储器输出第1诊断信号；

第2诊断电路，该第2诊断电路与所述驱动电路、第2电流监控电路、第3电流监控电路连接，并且向中央处理器输出第2诊断信号；

第1电流监控电路，该第1电流监控电路与所述驱动电路连接，并且向中央处理器的存储器输出第1电流监控信号；

第2电流监控电路和第3电流监控电路，该第2电流监控电路和第3电流监控电路与所述驱动电路、所述外部负载、所述第2诊断电路连接，并且向中央处理器的存储器输出第2电流监控信号；以及

中央处理器，该中央处理器根据存储于所述存储器中的所述第1诊断信号、所述第2诊断信号、所述第1电流监控信号、所述第2电流监控信号，来判断所述外部负载、所述驱动电路、和所述第1电流监控电路中的至少一个部件的异常。

2.如权利要求1所述的电路异常诊断装置，其特征在于，

所述驱动电路包括第1晶体管，

所述第1电流监控电路包括第1电流检测电阻，

所述第1诊断电路包括第2电压检测电阻，

所述第2诊断电路包括电压比较器、第2晶体管、第3电阻、第4电阻、第5电阻、第8电阻和第1二极管，

所述第2电流监控电路包括第3晶体管，所述第3电流监控电路包括第4晶体管，所述第2电流监控电路和所述第3电流监控电路共用第6电流检测电阻和第7电阻，

所述第1晶体管的漏极与所述外部负载的一端和所述第2电压检测电阻的一端连接，所述第1晶体管的源极与所述第1电流检测电阻的一端连接，所述中央处理器向所述第1晶体管的栅极提供栅极信号，

所述第1电流检测电阻的另一端接地，

所述第2电压检测电阻的另一端与所述中央处理器连接，并且从所述第2电压检测电阻的另一端向所述中央处理器提供所述第1诊断信号，

所述电压比较器的负极与所述第1晶体管的源极和所述第1电流检测电阻的一端连接，该电压比较器的正极与所述第3电阻的一端和所述第4电阻的一端连接，该电压比较器的输出端与所述第2晶体管的漏极连接，

所述第2晶体管的漏极与所述电压比较器的输出端连接，所述第2晶体管的源极与第5电阻的一端和所述第3晶体管的栅极连接，所述中央处理器向所述第2晶体管的栅极提供栅极信号，从所述第2晶体管的源极向所述中央处理器提供所述第2诊断信号，

所述第3电阻的另一端接地，所述第4电阻的另一端与第2电压源连接，所述第5电阻的另一端接地，

所述第3晶体管的漏极与所述外部负载的一端连接，所述第3晶体管的栅极与所述第2晶体管的源极连接，所述第3晶体管的源极与所述第6电流检测电阻的一端连接，

所述第4晶体管的漏极与所述外部负载的一端连接，所述第4晶体管的栅极与所述第1晶体管的源极连接，所述第4晶体管的源极与所述第6电流检测电阻的一端连接，

所述第6电流检测电阻的一端与所述第4晶体管的源极和所述第3晶体管的源极连接，所述第6电流检测电阻的另一端与所述第7电阻的一端连接，所述第7电阻的另一端接地，从所述第6电流检测电阻的两端向所述中央处理器提供电流监控信号。

3.如权利要求2所述的电路异常诊断装置，其特征在于，

在将所述第1电压源的电压值设为VB，所述外部负载的电阻值设为Rload，所述第3晶体管的导通电阻值设为Ron3，所述第6电流检测电阻的电阻值设为R6，所述第7电阻的电阻值设为R7时，

在向所述第1晶体管的栅极施加HIGH信号时，所述第1诊断信号和所述第2诊断信号为HIGH，所述第1电流监控信号为0，所述第2电流监控信号为VB/(Rload+Ron3+R6+R7)的情况下，判断为所述外部负载正常，所述驱动电路的所述第1晶体管的漏源极断路，所述第1电流监控电路的第1电流检测电阻正常。