[发明专利]一种测量激光切割头光学元件同轴度的方法有效
| 申请号： | 201911387412.4 | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN110926380B | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 李勋武;陈进;刘德军 | 申请（专利权）人： | 苏州迅镭激光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27;G01B21/24 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 215100 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 激光 切割 光学 元件 同轴 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测量激光切割头光学元件同轴度的方法，其特征在于：其包括以下步骤：
1)沿光轴依次设置一出光点、待测光学元件、靶面；
2)以出光点为零点位置，以垂直于所述靶面的方向为轴线，将待测光学元件放置于位置A处，所述位置A的轴向坐标为在所述靶面上获取一清晰的点目标清晰像点A，点A的质心坐标为[x,y]，其中L为所述出光点与所述靶面之间的距离，F为所述待测光学元件的焦距；
3)将待测光学元件放置于位置B处，所述位置B的轴向坐标为在所述靶面上获取一清晰的点目标清晰像点B，点B的质心坐标为[x′,y′]；
4)计算待测光学元件与出光点的光轴同轴度偏离量为[dx,dy]，其中
其中，Δ为位置A与位置B之间的距离，
2.如权利要求1所述的测量激光切割头光学元件同轴度的方法，其特征在于：所述待测光学元件为单个的聚焦镜或一个正焦镜组系统。
3.如权利要求1所述的测量激光切割头光学元件同轴度的方法，其特征在于：所述靶面由相机靶面提供。
4.如权利要求1所述的测量激光切割头光学元件同轴度的方法，其特征在于：所述出光点与所述靶面的距离L大于或等于4F。
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