[发明专利]浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备

说明书

本发明提供了一种浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备，涉及浅层不良地质体分布技术领域，方法包括分别获取目标区域在第一时期的图像和第二时期的图像；分别提取第一时期的图像和第二时期的图像中的分类特征；根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果；以及根据提取的分类特征采用第二分类器将第二时期的图像进行地物分类，得到第一地物分类结果；根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图；本发明能够方便、快捷、经济地得到浅层不良地质体分布图，方法简单高效，易于实现。

技术领域

本发明涉及浅层不良地质体分布获取技术领域，尤其是涉及一种浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备。

背景技术

伴随随着城市的发展，人类活动影响强度及范围越来越大，暗浜不良地质条件逐渐成为后期河道整治、轨道交通、管道工程、市政道路、桥梁工程等线性工程建设中的质量隐患。因此，从工程建设安全角度、生态环境修复等方面考虑，查明暗浜的深度、成因、分布范围，为勘察布孔、生态环境修复提供基础依据尤其迫切，意义重大。

目前，近年来，我国专门性的暗浜不良地质体调查工作在上海、杭州等经济发达地区开展过，暗浜等不良地质条件调查勘察一般都是在遇到暗浜时，利用钻探、开挖等手段，另外收集以往资料、物探等方法进行前期调查评价。由于暗浜整体上分布零散范围广、单个面积小等特点，施工过程中遇到偶然性太大，并且在无资料的基础上使用小螺旋钻、钻探等方法，工作量巨大，并且带有很大的盲目性，难以解决查明暗浜分布范围问题。收集资料主要采用收集老版本的地形图，与场地现状地形图进行对比，但是大比例尺、早期地形图少且只有局部地区，利用该方法调查暗浜分布范围推广具有一定局限性。物探方法进行暗浜调查主要有高密度电法、二维微动剖面探测法、瞬态瑞雷波法等，这些方法具有较好的探测效果，能满足工程精度要求，但是工作量大、费用高，难以广泛推广应用。因此，以上方法对于暗浜不良地质体调查发展起到了很好的推动作用，但是以上方法并不能快捷、方便、经济的获取暗浜分布。

发明内容

本发明的目的在于提供一种浅层不良地质体分布获取方法、装置和电子设备，能够方便、快捷、经济地得到浅层不良地质体分布图，方法简单高效，易于实现。

第一方面，实施例提供一种浅层不良地质体分布获取方法，包括：

分别获取目标区域在第一时期的图像和第二时期的图像；

分别提取第一时期的图像和第二时期的图像中的分类特征；

根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果；以及根据提取的分类特征采用第二分类器将第二时期的图像进行地物分类，得到第一地物分类结果；

根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图。

在可选的实施方式中，所述浅层不良地质体为暗浜；所述第一时期的图像和所述第二时期的图像均为遥感图像；

根据提取的分类特征和第一分类器对第一时期的图像进行分类，得到浅层不良地质体区域分类结果包括：

根据提取的分类特征采用第一分类器将第一时期的图像和第二时期的图像分别分类为水体区域和非水体区域；

根据浅层不良地质体区域分类结果和第一地物分类结果得到浅层不良地质体分布图包括：

将第一时期的图像中分类为水体区域而在第二时期的图像中分类为非水体区域的区域作为暗浜区域；将暗浜区域按第一地物分类结果进行地物分类标记，并展示在图像上，得到暗浜分布图。

在可选的实施方式中，所述分类特征包括颜色特征和纹理特征；其中，所述颜色特征包括RGB特征和近红外波特征，采用灰度共生矩阵获取所述纹理特征。