[发明专利]一种主板的测试装置

权利要求书

1.一种主板的测试装置，其特征在于，包括：

驱动模块，用于按照预设频率及占空比变化关系输出频率和/或占空比变化的驱动信号；

电流生成模块，用于根据所述驱动信号生成负载电流并通过自身的正极端输出至待测主板的连接端；其中，所述负载电流的频率和/或大小一一对应与所述驱动信号的频率和/或占空比相关；

电压采集模块，用于采集所述待测主板的连接端的电压；

显示模块，用于对所述电压进行显示；

控制模块，用于对所述驱动模块输出的驱动信号进行调理，并将调理后的驱动信号输出至所述电流生成模块；所述调理包括放大处理和/或滤波处理；

所述电流生成模块包括：

MOS管，所述MOS管串接在地和所述待测主板之间，所述MOS管的控制端与所述控制模块连接；

所述电流生成模块还包括：

三极管，所述三极管串接于所述MOS管的控制端与接地电阻之间，所述接地电阻的另一端接地，所述三极管的控制端与所述控制模块连接，用于对所述驱动信号进行放大，并通过放大后的驱动信号控制所述MOS管；

所述电流生成模块为多个，且多个所述电流生成模块的输出端并联；

且每相邻两个所述电流生成模块中的三极管的控制端之间设置有与跳帽配合的插针，其中一个所述电流生成模块中的三极管的控制端直接与所述控制模块连接。

2.如权利要求1所述的主板的测试装置，其特征在于，还包括：

设置于所述MOS管所在电流回路上的采样电阻；

所述显示模块还用于获取所述采样电阻两端的电压，并将所述电压转换为所述负载电流进行显示。

3.如权利要求2所述的主板的测试装置，其特征在于，所述采样电阻为多个且每个所述MOS管所在电流回路上的多个所述采样电阻并联。

4.如权利要求1所述的主板的测试装置，其特征在于，所述正极端为面积大于面积阈值的金属层。

5.如权利要求1所述的主板的测试装置，其特征在于，所述预设频率及占空比变化关系包括：

频率不变，占空比按照第一变化条件变化；

或者，占空比不变，频率按照第二变化条件变化；

或者，频率和占空比同时按照第三变化条件变化。

6.如权利要求1至5任一项所述的主板的测试装置，其特征在于，所述显示模块还用于将所述电压输出至所述驱动模块；

所述驱动模块还用于判断所述电压是否在标准电压范围内，若不满足，则确定不满足电压阈值的电压对应的驱动信号的频率及占空比。