[发明专利]一种用例参数生成方法及装置

说明书

本申请适用于芯片设计领域，提供了一种用例参数生成方法及装置，便于验证平台的维护。该方法包括：获取目标用例的约束信息，约束信息包括至少一个约束参数的约束条件，至少一个约束参数为目标用例的用例参数集中需要约束的随机参数；将约束信息输入共用随机参数发生函数中，生成用例参数集中的每个用例参数的参数值；其中，共用随机参数发生函数中预设有每个用例参数的随机条件，至少一个约束参数的参数值是根据约束条件生成的约束值，用例参数集中除至少一个约束参数外的剩余参数的参数值是根据剩余参数的对应的随机条件生成的随机值，共用随机参数发生函数是包含目标用例在内的多个用例共用的随机参数发生函数。

技术领域

本申请属于芯片测试领域，尤其涉及一种用例参数生成方法及装置。

背景技术

在芯片设计领域中，为了保证芯片的各个功能能够正常运行，往往需要通过验证平台来测试芯片的各个功能。其中，验证平台一般包括多个用例，每个用例对应于芯片的一个功能，芯片设计所涉及到的各项参数构成该多个用例的用例参数集。因此，每个用例对应该用例参数集中的一个或多个参数，通过约束该一个或多个参数(我们称为该用例的约束参数)使得该用例能够实现相应的功能。

目前，由于每个用例的约束参数不同，因此，验证平台中的每个用例都设置有一个专用的随机参数发生函数。然而，随着芯片设计越来越复杂，功能越来越丰富，验证平台的用例以及用例参数也越来越多。当芯片的硬件规格发生变化或者在验证过程中发现某个随机参数的取值范围需要调整时，往往需要逐个修改每个专用的随机参数发生函数中对应的随机条件，导致工作量大，不利于维护。

发明内容

本申请实施例提供了一种用例参数生成方法，可以解决现有技术中，当修改某个随机参数的随机条件时，需要修改所有专用的随机参数发生函数，从而导致工作量大且不易于维护问题。

为解决上述问题，本申请实施例提供了一种用例参数生成方法，包括：获取目标用例的约束信息，所述约束信息包括至少一个约束参数的约束条件，所述至少一个约束参数为用例参数集中所述目标用例需要约束的参数；将所述约束信息输入共用随机参数发生函数中，生成所述用例参数集中的每个用例参数的参数值；其中，所述共用随机参数发生函数中预设有所述每个用例参数的随机条件，所述至少一个约束参数的参数值是根据所述约束条件生成的约束值，所述用例参数集中除所述至少一个约束参数外的剩余参数的参数值是根据所述剩余参数的对应的随机条件生成的随机值，所述共用随机参数发生函数是包含所述目标用例在内的多个用例共用的随机参数发生函数。

在本申请实施例中，采用共用随机参数发生函数实现目标用例的用例参数的生成。该共用随机参数发生函数中包括用例参数集中所有用例参数的随机条件，因此可以为所有用例生成用例参数，而无需为每个用例部署专用的随机参数发生函数。那么，当某个用例参数的随机条件需要改变时，只需要修改共用随机参数发生函数中对应的随机条件，而无需对每个用例进行修改，避免了巨大的工作量和修改时出现错误的风险。且，当增加用例时，仅需在用例文件中增加对应的约束信息，而不需要单独写一个专用的随机参数发生函数，极大的提升了验证平台的维护效率。

可选的，共用随机参数发生函数中采用std::randomize函数实现分步生成参数值。

基于std::randomize函数实现分步生成参数值，便于模拟用例参数之间的依赖关系，并简化了尝试的过程，提高了效率，并避免了由于尝试时间过长而导致超时，并进一步导致生成失败的问题。

第二方面，本申请提供一种用例参数生成装置，包括：

获取单元，用于获取目标用例的约束信息，所述约束信息包括至少一个约束参数的约束条件，所述至少一个约束参数为用例参数集中所述目标用例需要约束的参数；