[发明专利]一种固态硬盘异常掉电的测试方法、装置和系统有效
申请号: | 201911376530.5 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN111105840B | 公开(公告)日: | 2022-03-08 |
发明(设计)人: | 刘思洋 | 申请(专利权)人: | 合肥大唐存储科技有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 郑旭丽;栗若木 |
地址: | 100089*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 固态 硬盘 异常 掉电 测试 方法 装置 系统 | ||
1.一种固态硬盘异常掉电的测试方法,包括:
接收到测试指令;其中,所述测试指令包括:掉电类型、待测固态硬盘SSD的数量、每一个待测SSD的模型Model号、为待测SSD供电的电源的插槽号;
当没有任何一个用于向SSD下发输入输出IO命令的进程启用时,将当前循环次数加1后进行预定处理;分别获取每一个待测SSD的Model号、容量信息和Smart信息并进行预定处理;其中,预定处理包括以下一个或多个的组合:打印;写入第一日志文件;
根据待测SSD的数量启用对应数量的用于向待测SSD下发IO命令的进程,通过启用的进程分别向每一个待测SSD下发IO命令;
分别在每一个待测SSD执行IO命令过程中向为每一个待测SSD供电的电源下发掉电命令,在下发掉电命令后的第一预设时间后向所述电源下发上电命令;分别对每一个待测SSD的上电次数进行预定处理,结束所有启用的用于向待测SSD下发IO命令的进程;继续执行所述将当前循环次数加1后进行预定处理的步骤,直到当前循环次数加1后大于最大循环次数;
所述通过启用的进程分别向每一个待测SSD下发IO命令包括:
分别生成每一个待测SSD的配置文件,分别根据每一个待测SSD的配置文件通过启用的进程向每一个待测SSD下发IO命令;其中所述配置文件中包括:读写比例,在向每一个待测SSD下发IO命令时,按照该待测SSD的配置文件中的读写比例来 下发读命令和写命令。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述配置文件包括所述待测SSD的容量信息对应的范围内的逻辑区块地址LBA中用于执行IO命令的LBA、读写比例、IO块大小。
3.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,该方法还包括:
分别根据每一个待测SSD执行IO命令时生成的第二日志文件判断每一个待测SSD是否存在IO异常的情况,当判断出所有待测SSD均不存在IO异常的情况时,继续执行所述分别向为每一个待测SSD供电的电源下发掉电命令的步骤。
4.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,该方法还包括:
分别检测每一个待测SSD的Model号、容量信息和Smart信息是否正常,当所有待测SSD的Model号、容量信息和Smart信息均正常时,继续执行所述结束所有启用的用于向待测SSD下发IO命令的进程的步骤。
5.一种固态硬盘异常掉电的测试装置,包括处理器和计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有指令,其特征在于,当所述指令被所述处理器执行时,实现如权利要求1~4任一项所述的固态硬盘异常掉电的测试方法。
6.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1~4任一项所述的固态硬盘异常掉电的测试方法的步骤。
7.一种固态硬盘异常掉电的测试系统,包括:
固态硬盘异常掉电的测试装置,包括处理器和计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有指令,当所述指令被所述处理器执行时,实现如权利要求1~4任一项固态硬盘异常掉电的测试方法;
电源,与一个或多个待测固态硬盘SSD连接,用于为一个或多个待测SSD供电,在固态硬盘异常掉电的测试装置的控制下进行掉电和上电操作;
一个或多个待测SSD,与电源和固态硬盘异常掉电的测试装置中的处理器连接,用于接收处理器下发的IO命令并执行。
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