[发明专利]显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质

说明书

本发明提供一种显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质。该方法用于检测待测显示面板中目标引脚是否受静电击伤，其包括：获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，预设引脚与目标引脚为相同类型的引脚；根据多个第一阻抗值，得到阻抗下限值；根据阻抗下限值，对参考显示面板的可靠性进行检测；如果阻抗下限值通过可靠性检测，则获取待测显示面板中目标引脚的第二阻抗值；根据阻抗下限值和第二阻抗值，确定目标引脚是否受到静电击伤。该方案通过对参考显示面板进行可靠性检测，提高了阻抗下限值的准确性，进一步提高了显示面板检测的准确性。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质。

背景技术

LCM(Liquid crystal display module，液晶显示面板模组)在生产过程中易受ESD(Electro-Static discharge，静电阻抗器)损伤。

为了检测LCM是否受到ESD损伤，可以在高温条件下使LCM老化2小时，再进行点灯检查。然而，2小时的老化时长，不一定会导致LCM的显示屏不能正常显示。即点灯检查只有在足够长的老化时间下，才能保持一定的准确率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质，可以提高显示面板检测的准确性。

本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法，用于检测所述显示面板中目标引脚是否受静电击伤，其包括：

获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，所述多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，所述预设引脚与所述目标引脚为相同类型的引脚；

根据所述多个第一阻抗值，得到阻抗下限值；

根据所述阻抗下限值，对所述参考显示面板的可靠性进行检测；

如果所述参考显示面板通过可靠性检测，则获取所述显示面板中所述目标引脚的第二阻抗值；

根据所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，确定所述目标引脚是否受到静电击伤。

在一实施例中，所述参考显示面板包括多个显示面板，所述获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值步骤，包括：

获取每个预设引脚对应的阻抗衰减曲线，以及所述预设引脚对应的目标显示面板的性能下降曲线，其中，所述阻抗衰减曲线包括所述预设引脚在不同静电击伤时长下对应的衰减阻抗，所述性能下降曲线包括所述目标显示面板在不同静电击伤时长下对应的性能衰减值；

从所述阻抗衰减曲线中，获取所述性能下降曲线中预设性能衰减值对应的目标衰减阻抗；

将所述目标衰减阻抗设置为所述第一阻抗值。

在一实施例中，所述将所述目标衰减阻抗设置为所述第一阻抗值步骤，包括：

获取所述目标衰减阻抗对应的阻抗衰减曲线的阻抗衰减度，所述阻抗衰减度为所述预设引脚在预设时间段内的平均阻抗下降值；

判断所述阻抗衰减度是否处于预设衰减度范围内；

如果在预设衰减度范围内，则将所述目标衰减阻抗设为所述第一阻抗值。

在一实施例中，所述根据所述阻抗下限值，对所述参考显示面板的可靠性进行检测步骤，包括：

根据所述阻抗下限值，获取所述参考显示面板对应的制程能力指数和过程能力指数；

判断所述制程能力指数是否不小于第一预设值，以及所述过程能力指数是否不小于第二预设值；