[发明专利]RAID卡检测方法以及装置

说明书

本发明公开了一种RAID卡检测方法以及装置，该方法包括：S1，使用storcli工具第一次获取RAID卡与SAS链路之间产生的phy error的第一项计数、第二项计数和第三项计数；S2，判断第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个是否都小于基准值，S3，如果判断的结果为是，则执行带宽压力测试并返回至步骤S1再次获取第一项计数、第二项计数和第三项计数；S4，根据再次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数判断第一次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个是否都无增长，如果判断结果为都无增长，则RAID卡SAS链路的测试结果为通过。通过上述技术方案，至少能够检测RAID卡SAS链路信号质量，确保出厂的RAID卡处于健康状态。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体来说，涉及一种RAID卡检测方法以及装置。

背景技术

RAID(Redundant Array of Independent Disks，独立冗余磁盘阵列)是一种把多块独立的物理硬盘按不同方式组合起来形成一个逻辑硬盘，通过磁盘条带化、磁盘镜像等技术从而提供比单个硬盘有着更高的性能和提供数据冗余。RAID卡就是用来实现RAID功能的板卡，通常是由I/O处理器、硬盘控制器、硬盘连接器和缓存等一系列零组件构成的。不同的RAID卡支持的RAID功能不同，主流使用的RAID级别主要有RAID0、RAID1、RAID5、RAID6等。

由于使用的芯片质量不佳或者生产过程中连接器压接等制造工艺问题，RAID卡SAS链路质量参差不齐，SAS链路信号质量差的系统会出现RAID磁盘读写性能下降，甚至RAID磁盘无法正常工作甚至离线掉盘等故障。

Phy error是衡量一个SAS链路信号传输质量的关键指标，通常情况下，一旦RAID控制器与硬盘或背板之间的通信链路出现故障(可能是设备硬件故障，也可能是链路传输信号质量恶化)，RAID卡中就会产生大量的phy error。因此在测试过程中对RAID卡与SAS硬盘链路之间产生的phy error count进行统计就显得很有必要，根据phy error的产生数量，来判断一个SAS链路信号质量的好坏。

在实际RAID卡生产或者服务器老化测试中，无法通过接入信号测试仪器来测量phy error分析信号质量，

发明内容

针对相关技术中的上述问题，本发明提出一种RAID卡检测方法以及装置，能够提出一种通过linux下的系统工具检测phy error的方法。

本发明的技术方案是这样实现的：

根据本发明的一个方面，提供了一种RAID卡检测方法，包括：

S1，使用storcli工具第一次获取RAID卡与SAS链路之间产生的phy error的第一项计数、第二项计数和第三项计数；

S2，判断第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个是否都小于基准值，

S3，如果判断的结果为是，则执行带宽压力测试并返回至步骤S1再次获取第一项计数、第二项计数和第三项计数；

S4，根据再次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数判断第一次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个是否都无增长，如果判断结果为都无增长，则RAID卡SAS链路的测试结果为通过。

根据本发明的实施例，在S4中，判断第一次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数是否有增长包括：将再次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数分别与第一次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数进行比较，如果再次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个与第一次获取的第一项计数、第二项计数和第三项计数中的每一个都相差为0，则判断结果为无增长。