[发明专利]一种存储装置的健康状态预测方法及系统

说明书

本发明实施例提供了一种存储装置的健康状态预测方法及系统，以提升存储单元健康状态获取的便捷性及可靠性。本发明实施例方法包括：将每个存储单元在存储装置中的位置信息，映射为多维空间中的位置坐标，位置信息与位置坐标之间一一对应；获取全部存储单元的特征值；获取全部存储单元中每个不健康存储区域的第一位置信息及第一标签值；获取全部存储单元中部分健康存储区域的第二位置信息及第二标签值，第一标签值和第二标签值分别用于指示对应存储区域的健康状态；采用目标检测算法对全部存储单元的特征值、每个不健康存储区域的第一位置信息及第一标签值，以及部分健康存储区域的第二位置信息及第二标签值进行训练，以建立健康状态预测模型。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，尤其涉及一种存储装置的健康状态预测方法及系统。

背景技术

在诸如固态硬盘等一些Nand Flash存储设备使用中，坏块问题是不可避免的。比如，一些数据块反复使用以后，无法有效贮存电子；一些数据块的存储单元由于隧道氧化层有电子残留，使得读取的数据错误率超出纠错能力范围。而如何及时或提前发现坏块或是风险高的发生区域，以避免数据丢失，在业界还没有有效的解决方法。

现有技术中，一般通过经验值来指定一个或多个数据块的特征值为监测指标，并通过设置阈值来判断数据块的健康状态。如：很多产品会把擦写次数(P/E Cycles)和原始位错误率(RBER)作为监测指标，并指定对应的阈值(如擦写7000次和原始位错误率≤10^-5)判断数据块的健康状态，当擦写次数或和原始位错误率超出对应阈值时，将不再继续使用，反之，则认为数据块为健康状态，继续使用。

但实际应用中，坏块的发生情况是很复杂的，与每块盘、每片区域的具体使用情况密切相关——比如，有的数据块虽然读写次数比较低，但是坏块的风险非常高；有的数据块虽然读写次数超过设定阈值，但是依然可以继续使用。同时，坏块的发生是有区域特性的，当一个区域内出现坏块时，同一区域内相邻块成为坏块的几率也会升高，故现有技术中通过简单设置阈值的方法来检测数据块的健康状态，是不可靠的。

发明内容

本发明实施例提供了一种存储装置的健康状态预测方法及系统，用于通过建立健康状态预测模型来对存储装置中存储单元的健康状态进行预测，以提升存储单元健康状态获取的便捷性及可靠性。

本申请实施例第一方面提供了一种存储装置的健康状态预测方法，所述存储装置包括至少一个存储单元，所述方法包括：

将每个存储单元在所述存储装置中的位置信息，映射为多维空间中的位置坐标，所述位置信息与所述位置坐标之间一一对应；

获取全部存储单元的特征值，所述特征值包括原始错误比特率RBER、不可修复的错误比特率UBER、擦写次数P/E cycle及上电时间中的至少一种；

获取所述全部存储单元中每个不健康存储区域的第一位置信息及第一标签值，所述每个不健康存储区域的第一位置信息至少包括一个不健康存储单元的第一位置坐标；

获取所述全部存储单元中部分健康存储区域的第二位置信息及第二标签值，其中，每个健康存储区域的第二位置信息至少包括一个健康存储单元的第二位置坐标，所述第一标签值和所述第二标签值分别用于指示对应存储区域的健康状态；

采用目标检测算法对所述全部存储单元的特征值、所述每个不健康存储区域的第一位置信息及第一标签值，以及所述部分健康存储区域的第二位置信息及第二标签值进行训练，以建立健康状态预测模型；

根据所述健康状态预测模型对所述存储装置的健康状态进行预测。

优选的，当所述存储装置为闪存芯片时，所述存储单元包括：物理页或连续相邻的部分物理页；

当所述存储单元为所述物理页或所述连续相邻的部分物理页时，所述将每个存储单元在所述存储装置中的位置信息，映射为多维空间中的位置坐标，包括：