[发明专利]快中子测量的装置在审
申请号: | 201911368231.7 | 申请日: | 2019-12-26 |
公开(公告)号: | CN111025377A | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 王俊丽;肖明;宋云 | 申请(专利权)人: | 中广核久源(成都)科技有限公司 |
主分类号: | G01T3/06 | 分类号: | G01T3/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610041 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 快中子 测量 装置 | ||
本发明提供一种快中子测量的装置,包括光电转换部件、前放电路盒、一个高压电路盒、信号电路盒及晶体安装结构;光电转换部件用于实现光电转换部件安装,前放电路盒用于实现前放电路安装,高压电路盒用于实现高压电路安装,信号电路盒用于实现信号电路安装,晶体安装结构用于实现晶体安装;光电转换部件与前放电路盒信号连接;光电转换部件与所述高压电路盒高压连接;前放电路盒与所述高压电路盒低压连接;前放电路盒和所述信号电路盒信号连接。该快中子测量的装置避免了漫化体对中子的吸收、省去了核材料的成本、降低了特殊制作工艺的难度,同时保证了对快中子探测的性能,塑料闪烁体的快速光衰减性能,提升了对高注量快中子的时间响应性能。
技术领域
本发明具体涉及一种快中子测量的装置。
背景技术
在快中子测量领域,目前国内外主要采用的测量方法为核反应法和核裂变法,核反应发法对于热中子到低能中子的探测截面较高,但对快中子的探测截面极低,需要采用慢化技术才能间接的对快中子进行测量;核裂变法主要用于热中子和慢中子的测量,对快中子的直接测量也不理想,且需要使用可裂变的核材料和特殊的制作工艺,其材料成本和工艺要求都比较高。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术的不足,提供一种快中子测量的装置,该快中子测量的装置可以很好地解决上述问题。
为达到上述要求,本发明采取的技术方案是:提供一种快中子测量的装置,该快中子测量的装置包括三个光电转换部件、一个前放电路盒、一个高压电路盒、一个信号电路盒及一个晶体安装结构;三个所述光电转换部件用于实现光电转换部件安装,所述前放电路盒用于实现前放电路安装,所述高压电路盒用于实现高压电路安装,所述信号电路盒用于实现信号电路安装,所述晶体安装结构用于实现晶体安装;三个所述光电转换部件与所述前放电路盒信号连接;三个所述光电转换部件与所述高压电路盒高压连接;所述前放电路盒与所述高压电路盒低压连接;所述前放电路盒和所述信号电路盒信号连接。
该快中子测量的装置具有的优点如下:
该快中子测量的装置避免了漫化体对中子的吸收、省去了核材料的成本、降低了特殊制作工艺的难度,同时保证了对快中子探测的性能,塑料闪烁体的快速光衰减性能,提升了对高注量快中子的时间响应性能。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,在这些附图中使用相同的参考标号来表示相同或相似的部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1示意性地示出了根据本申请一个实施例的快中子测量的装置的俯视图。
其中:1、光电转换部件;2、前放电路盒;3、晶体安装结构;4、高压电路盒;5、信号电路盒。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,以下结合附图及具体实施例,对本申请作进一步地详细说明。
在以下描述中,对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”、“示例”等等的引用表明如此描述的实施例或示例可以包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度,但并非每个实施例或示例都必然包括特定特征、结构、特性、性质、元素或限度。另外,重复使用短语“根据本申请的一个实施例”虽然有可能是指代相同实施例,但并非必然指代相同的实施例。
为简单起见,以下描述中省略了本领域技术人员公知的某些技术特征。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中广核久源(成都)科技有限公司,未经中广核久源(成都)科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911368231.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。