[发明专利]一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统

说明书

本发明公开了一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统，包括：根据每个产品的图案分别制作其线路模板图；获得产品A对应的输入图像X的特征点，获取输入图像X的特征图M；获得产品A对应的线路模板图B的特征点，基于提取的特征点，获取线路模板图B的特征图N；匹配特征图M和特征图N，基于匹配结果获得M在N中的位置，基于特征图M与特征图N的相对位置，获得输入图像X中所有线路的位置。本方法通过准确判断图像线路位置，结合图片缺陷位置，实现了线路的短路和断路的准确判定，提高了缺陷发现的准确率及效率，降低了缺陷进入下一个环节的风险，提升产线的产品良率，节约了判图的人力成本。

技术领域

本发明涉及图像处理领域，具体地，涉及一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统。

背景技术

液晶面板制造的前段Array制程是液晶面板制造过程中极其重要的制程之一，包括薄膜、黄光、蚀刻、剥膜四部分。

目前液晶面板的array制程会出现大量的缺陷，其中最重要也影响最大的两类缺陷是相交缺陷和断线缺陷，相交缺陷是指特定材质的缺陷(如金属残留等)落在了两条线路之间，导致线路短路；断线缺陷是指特定类型的缺陷(如破洞等)落在线路上，导致线路断路。这两类缺陷将直接导致产品报废，此类缺陷的准确检测可有效避免系统漏检导致报废产品流入下一个制程。现有的产线AOI检测系统由于无法判断图像的线路位置而不能计算缺陷是否导致了线路相交或者断线，只能通过人工方式判断，效率低下且出错率高。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出了一种液晶面板array图像的线路提取方法及系统，能够自动计算AOI检测设备拍摄到的产品图像中各种线路的准确位置，结合AOI设备的缺陷检测结果，自动计算相交或断线缺陷，提高了缺陷发现的准确率，极大缩短了缺陷发现的周期，降低了缺陷产品进入下一个制程环节的风险，提升产线的产品良率，同时也减少了产线人员判图的工作量。

为实现上述发明目的，本发明一方面提供了一种液晶面板array图像的线路提取方法，所述方法包括：

根据每个产品的图案分别制作其线路模板图；

获得产品A对应的AOI设备的输入图像X，提取输入图像X的特征点，基于提取的特征点获取输入图像X的特征图M；

获得产品A对应的线路模板图B，提取线路模板图B的特征点，基于提取的特征点获取线路模板图B的特征图N；

基于特征图M和特征图N的匹配结果得到特征图M在特征图N中的位置；基于特征图M与特征图N的相对位置，获得输入图像X中所有线路的位置。

优选的，所述方法还包括：从AOI设备获取输入图像X中缺陷的类型和缺陷坐标，基于缺陷的坐标位置与线路位置的运算结果判断缺陷是否引起线路相交或线路断线。

优选的，缺陷的坐标位置与线路位置的运算包括：

步骤1：由输入图像X的缺陷位置坐标P＝(x_i,y_i),i＝1,2,...n，获得X的缺陷位置掩码图：

其中n为图像X的宽度，m为图像X的高度，a_jk∈{0,1}，对于M′中的每一个a_jk，对应的坐标如果在P组成的多边形内，则设置为1，否则置为0；

步骤2：基于输入图像X在N中的位置及线路模板图得到线路位置掩码图N_i,i＝1,2,...,n；

步骤3：对缺陷位置掩码图M′和线路位置掩码图N_i，执行下列运算：

计算M′与N_i的像素与掩码图R_i,i＝1,2,...,n，