[发明专利]用于测量显示面板闪烁度的检测装置及检测方法

说明书

本申请公开了一种用于测量显示面板闪烁度的检测装置，包括：用于将显示面板的亮度转换成模拟亮度波形信号的测量探头、用于将所述模拟亮度波形信号转换成数字亮度波形信号的模数转换装置以及用于将所述数字亮度波形信号计算获得所述显示面板的闪烁度。本申请还公开了一种用于测量显示面板闪烁度的检测方法。本申请实施例通过使用含有多个光电二极管的测量探头测量显示面板的闪烁画面，且运用移动平均法处理闪烁波形数据，在实现低亮度时对显示面板进行闪烁度测量的同时，减少了测量显示面板闪烁度的成本。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种用于测量显示面板闪烁度的检测装置及检测方法。

背景技术

在液晶显示面板的驱动过程中，一般会采用交流驱动极性反转的方式。由于在这一方式中引入了公共电极信号(VCOM)，在极性反转的切换中会发生驱动电压不完全对称的现象，这种现象会带来特定测试画面下人眼可见的闪烁现象(Flicker)，一般采用闪烁度来描述这一闪烁。闪烁度的大小直接描述了液晶显示面板的品质可靠度，比如薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)漏电流越强，往往会导致闪烁度越大。更重要地是，当闪烁度较大时，往往意味着公共电极信号偏离极性反转的中心对称位置较大，这意味着显示面板发生图像残留(Image Sticking，IS)的风险变大。所以，如何测量与调节特性测试画面下闪烁度的大小，是液晶显示面板设计和制造中一项重要的课题。

现有的技术中，对闪烁度进行测量的方法通常包括FMA方法以及JEITA方法以及VESA方法。其中FMA方法用亮度变化的交流分量比直流分量代表闪烁度，通常需要使用光电信号转换的探头。最常用的探头CA310中，通常使用对比法测量闪烁度。在测量时，从液晶显示屏发出的光线，只有在±2.5度(LED通用测量探头(直径为Φ10)(CA-PSU32/35)和LED闪烁测量探头(直径为Φ10)(CA-PS32/35)：±5度)范围内与液晶显示屏垂直的光才由物镜引导到光纤。在此种方法中，需要满足在探测视域内的最小像素数目，才能保证足够的光能量进入到探测设备，然而，在画面较暗、灰阶度较低的情况下，例如VA(vertical alignmen，垂直配向)系列的LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)，亮度低于1nits(单位面积的发光强度)时，闪烁度的测试模式对应的亮度更低，从而导致该设备无法探测闪烁度。

因此，亟需提供一种用于测量显示面板闪烁度的检测装置及检测方法，来解决上述技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种用于测量显示面板闪烁度的检测装置及检测方法，可以准确测量显示面板处于低亮度时的闪烁度，可以使在生产显示面板时公共电极调整更加准确，从而提高显示产品的品质。

本申请实施例提供一种用于测量显示面板闪烁度的检测装置，包括：测量探头、模数转换装置以及测量处理装置；

其中，所述测量探头用于扫描提供有闪烁画面的待测显示面板，将所述显示面板的亮度转换成电压信号，获得所述显示面板的模拟亮度波形信号；所述模数转换装置用于接收所述测量探头输出的模拟亮度波形信号，并转换成第一数字亮度波形信号；所述测量处理装置用于将所述模数转换装置输出的第一数字亮度波形信号通过多次移动平均处理转换成清晰显示的第二数字亮度波形信号，计算获得所述显示面板的闪烁度。

在一些实施例中，所述测量探头包括多个光电二极管以及测量子单元；其中，多个所述光电二极管用于获得所述显示面板的亮度信号，所述测量子单元用于将所述至少一个亮度信号取平均值，获得所述显示面板的模拟亮度波形信号。

在一些实施例中，所述测量处理装置还用于对所述第一数字亮度波形信号进行滤波处理。

在一些实施例中，当进行所述移动平均处理时，取从4个以上的测量值中去掉最大值以及最小值后剩余的测量值的平均。