[发明专利]一种测试漆包线偏心度的方法

说明书

本发明提供了一种测试漆包线偏心度的方法，包括沿漆包线周向卷绕胶带后，将卷绕胶带的部分截断，对得到的截面依次进行磨光和抛光，最后在金相显微镜下观察。该方法能够快速实现漆包线的固定，在磨光和抛光时漆包线不会弯曲变形，且待测截面完整且垂直于漆包线。相对于传统的金相镶嵌料，本发明的制样方法高效经济，制样效率提升600％以上，每个试样可节约15g金相镶嵌料。

技术领域

本发明涉及漆包线质量控制技术领域，具体涉及一种测试漆包线偏心度的方法。

背景技术

漆包线是将裸线退火软化后，再经过多次涂漆、烘焙制备得到。漆包线漆膜偏心度大小会对成品漆包线的各项性能产生不同程度的影响，所以生产厂家会严格控制漆膜偏心度的大小。漆膜偏心度是垂直于漆包线某一横截面上的最大漆膜厚度与最小漆膜厚度的比值。目前，测量漆膜偏心度普遍的方法是：将漆包线垂直固定在金相镶嵌料中，然后进行磨光(包括粗磨和细磨)和抛光，最后在金相显微镜下进行观察和测量。

金相制样的好坏直接影响着检验结果准确与否，不正确的操作可能得出错误的结论，所以金相制样过程尤其重要。制样过程的关键技术是：保证漆包线测量横截面与漆包线垂直。目前制样所用的耗材为金相镶嵌料，其分为热镶嵌料和冷镶嵌料。热镶嵌料完全定型需要0.5～1小时。冷镶嵌料定型需要1～3小时。生产厂家为了生产出符合要求的漆包线，一般都需要对机台上首盘漆包线漆膜偏心度进行测量。冷热镶嵌材料定型需要的时间都较长，当测完偏心度后，产线已经生产大量可能不合格的漆包线。因此需要提供一种快速测试漆包线漆膜偏心度的方法。

鉴于此，特提出本发明。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试漆包线偏心度的方法。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

本发明涉及一种测试漆包线偏心度的方法，包括以下步骤：

(1)沿漆包线周向卷绕胶带后，将卷绕胶带的部分截断，得到胶带包裹的漆包线截面；

(2)对所述截面依次进行磨光和抛光，最后在金相显微镜下观察。

优选地，步骤(1)中，所述漆包线的直径≥0.30mm。

优选地，步骤(1)中，先在所述漆包线表面涂覆胶层，然后在所述胶层表面卷绕胶带。

优选地，步骤(1)中，在距离所述漆包线一端1～2cm处涂覆胶层。

优选地，步骤(1)中，在所述漆包线表面包裹一层双面胶带，所述双面胶带包括隔离膜和涂覆有胶粘剂的基材，将所述隔离膜除去即得到所述胶层。

优选地，步骤(1)中，在所述漆包线表面涂覆胶层后，将所述漆包线固定在绕卷设备上，然后在所述胶层表面卷绕胶带，得到卷绕胶带层。

优选地，所述卷绕胶带层的单边厚度为0.4～0.6cm。

优选地，步骤(2)中，所述磨光包括粗磨和细磨，所述粗磨用于去除切割变形层，所述细磨用于去除粗磨产生的表面变形和细划痕。

优选地，步骤(2)中，所述抛光通过绒布抛光机实现，用于去除所述截面表面的细微划痕，使截面表面呈光亮的镜面；

优选地，步骤(2)中，用金相显微镜对抛光后的截面进行显微观察，在10倍目镜下选择5～100倍物镜，并拍摄显微照片。

本发明的有益效果：