[发明专利]一种干式免疫荧光POCT检测仪器质量检测装置及其使用方法

权利要求书

1.一种干式免疫荧光POCT检测仪器质量检测装置，其特征在于：包括光电检测系统质检组件和激发光光源质检组件，所述光电检测系统质检组件包括光电窄带滤光镜片(8)、光源(9)及按照普通试纸被激发光照射所激发荧光强度变化趋势控制光源(9)发光的光电控制模块(12)，光源(9)发出的光线透过光电窄带滤光镜片(8)照射于被质检的干式免疫荧光POCT检测仪的光学检测系统(13)上；所述激发光光源质检组件包括激发光窄带滤光镜片(2)、光电敏感器件(3)及用于记录光电敏感器件(3)采集的光强信号的激发光控制模块(6)，所述光电敏感器件(3)用于采集被质检的干式免疫荧光POCT检测仪的光学检测系统(13)发出的透过激发光窄带滤光镜片(2)的光线；

光学检测系统(13)包括被质检干式免疫荧光POCT检测仪器的激发光光源、光电检测系统，光电控制模块(12)提供控制电流、检测电路和检测滤波的功能；

光电检测系统质检组件还包括光电检测系统质检组件外壳(11)、光源PCB板(10)、导线(5)；

激发光光源质检组件还包括激发光光源质检组件外壳(1)、光源敏感器件PCB板(4)、显示模块(7)；

光源(9)焊接在光源PCB板(10)上，光源PCB板(10)内置于光电检测系统质检组件外壳(11)内，且保证光源(9)置于光电检测系统质检组件的光电窄带滤光镜片(8)正下方；光源PCB板(10)通过导线(5)连接光电控制模块(12)，光电控制模块(12)为光源(9)提供电流，稳定控制光源(9)光强；

激发光光源质检组件外壳(1)上，在对应普通试纸的荧光区域设置有通孔，通孔形状和大小与普通试纸的荧光区域相同，激发光窄带滤光镜片(2)置于通孔中；

所述光电窄带滤光镜片(8)的中心波长与干式免疫荧光POCT检测仪器被测试纸所选用荧光剂的荧光波长相同；

所述激发光窄带滤光镜片(2)的中心波长与干式免疫荧光POCT检测仪器激发光波长相同；

所述光电检测系统质检组件光源驱动电流大小曲线为：

式中，I_T为光电检测系统质检组件T线光源驱动电流大小；I_C为光电检测系统质检组件C线光源驱动电流大小；t为扫描时间，其值为0s至2s，0s为光电检测系统开始扫描试纸待测区域时间；y_{max_Q_T}和y_{max_Q_C}依据二分法进行实验测得。

2.一种如权利要求1所述的干式免疫荧光POCT检测仪器质量检测装置的使用方法，其特征在于：包括光电检测系统质检组件的使用方法、激发光光源质检组件的使用方法、激发光光源质检组件的检测方法及光电检测系统质检组件的检测方法；

所述光电检测系统质检组件的使用方法包括以下步骤：

S1、光电检测系统质检组件插入待质检干式免疫荧光POCT检测仪器；

S2、干式免疫荧光POCT检测仪器开始检测；

S3、光电控制模块(12)按照普通试纸被激发光照射所激发荧光强度变化趋势控制光源(9)发光；

S4、光学检测系统(13)接收并记录所测信号，得到被质检干式免疫荧光POCT检测仪器所测量的光电检测系统质检组件的信号；

S5、光学检测系统(13)计算得到检测结果，与预设信息对比得到被质检干式免疫荧光POCT检测仪器光电检测系统的偏差；

所述激发光光源质检组件的使用方法包括以下步骤：

A1、激发光光源质检组件插入待质检干式免疫荧光POCT检测仪器；

A2、干式免疫荧光POCT检测仪器开始检测；

A3、光学检测系统(13)向激发光光源质检组件发射激发光，激发光控制模块(6)通过光电敏感器件采集并记录光强信号；

A4、在仪器质检时依次执行A1、A2、A3，将A3中所得光强信号与标准光强信号做对比，得到仪器激发光光源偏差；

所述光电检测系统质检组件的检测方法包括以下步骤：

T1：选定光电检测系统质检组件参数，在T/C比值法检测项目试纸上滴加标准样本，用标准仪器对此试纸进行检测，根据高斯曲线公式得到C峰参数和T峰参数，并将C峰的最高值和T峰的最高值分别设为C值和T值；高斯曲线公式为：

式中y_max表征峰最高值，x_max表征峰位置，S表征半峰宽的平方；

根据高斯拟合结果得到此试纸C峰参数：y_{max_c}，x_{max_c}，s_c和此试纸T峰参数：y_{max_T}，x_{max_T}，s_T；

T2：将y_{max_c}、y_{max_T}分别设为C值和T值带入浓度计算公式，可得到预设浓度值；

T3：分别对应C峰和T峰的参数设定代表C值的光源和代表T值的光源的电流大小，电流大小随时间变化符合高斯曲线；x_max表征峰位置，S表征半峰宽的平方，其数值不影响检测结果，因此x_max可依据光电检测系统质检组件和仪器检测方案设置，S与试纸对应峰的S参数相同；即光电检测系统质检组件驱动电流曲线的S_{Q_C}＝Sc；S_{Q_T}＝S_T,此检测点坐标公式，转换为时间坐标公式为:

其中，n_C代表C峰半峰宽起始点到终止点的距离，t_C代表从C峰半峰开始到终止的时间，n_T代表T峰半峰宽起始点到终止点的距离，t_T代表从T峰半峰开始到终止的时间；

光电检测系统质检组件驱动电流曲线的x_{max_Q_C}为：

其中ι_C为光电检测系统质检组件C线滤光镜片水平面中心点距光电检测系统质检组件检测区域起始点距离，D_C代表检测起始点X轴坐标到C峰最高检测点X轴坐标的距离，n’_C代表C峰的X轴坐标，

转换为时间坐标公式为:

t’_C代表检测到C峰最高点的时间；

光电检测系统质检组件驱动电流曲线的x_{max_Q_T}为：

其中ι_T为光电检测系统质检组件T线滤光镜片水平面中心点距光电检测系统质检组件检测区域起始点距离，其中ι_T＝5mm；D_T代表检测起始点X轴坐标到T峰最高检测点X轴坐标的距离，n’_T代表T峰的X轴坐标；转换为时间坐标公式为:

t’_T代表检测到T峰最高点的时间；

综合公式(1)(2)(3)(5)(7)，光电检测系统质检组件光源驱动电流大小曲线为：

式中，I_T为光电检测系统质检组件T线光源驱动电流大小；I_C为光电检测系统质检组件C线光源驱动电流大小；t为扫描时间，其值为0s至2s，0s为光电检测系统开始扫描试纸待测区域时间；y_{max_Q_T}和y_{max_Q_C}依据二分法进行实验测得；

所述激发光光源质检组件的检测方法包括以下步骤：

Y1、将激发光光源质检组件插入标准仪器，进行检测；检测过程中，激发光光源质检组件的光电敏感器件接收仪器光源发出的激发光，检测并记录激发光光源质检组件收到的光强信号，得到光强信号数据最大值；

Y2、在仪器质检时，将激发光光源质检组件插入待质检仪器进行检测；激发光光源质检组件的光电敏感器件接收待质检仪器光源发出的激发光，得到激发光光强信号数据最大值；

Y3、将Y2中被质检干式免疫荧光POCT检测仪器测得的数据最大值与Y1中标准仪器检测得的数据最大值做对比，得出偏差；

所述步骤S5中的偏差以百分比的形式体现，根据行业标准或者企业内部的标准判定被质检干式免疫荧光POCT检测仪器是否符合要求；

所述步骤A4中的偏差以百分比的形式体现，并通过显示模块(7)显示；标准光强信号为出厂前，激发光光源质检组件在标准仪器中测得的光强信号。