[发明专利]测量装置和方法、校准线制作系统和方法、分析装置、液化气制造设备以及性状分析方法

权利要求书

1.一种测量装置，其特征在于，包括：

容器，样品气体注入所述容器；

液化机构，使所述容器内的所述样品气体液化；

近红外探针，从所述容器内延伸至所述容器外；以及

近红外测量器，通过所述近红外探针测量通过所述液化机构而液化的状态的所述样品气体的吸光度光谱。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述液化机构具有：

筒状体，在所述容器内形成被导入所述样品气体的液化室；以及

冷却器，冷却所述筒状体使所述液化室内的所述样品气体液化，

所述近红外探针的一部分配置在所述液化室内，

所述近红外测量器通过所述近红外探针，向所述液化室内的通过所述冷却器而液化的状态的所述样品气体照射近红外光，通过所述近红外探针检测透射光以及反射光的至少一个，由此测量所述样品气体的吸光度光谱。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，

所述液化机构还具有：

传热构件，将所述冷却器热连接到所述筒状体上；

加热器，对所述传热构件进行加热；以及

温度调节器，控制所述加热器调节所述传热构件的温度。

4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，

所述冷却器具有：

冷却剂罐，冷却剂注入所述冷却剂罐；以及

冷却管，将所述冷却剂从所述冷却剂罐输送到所述传热构件。

5.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，

所述液化机构还具有：

传热构件，将所述冷却器热连接到所述近红外探针上；

加热器，对所述传热构件进行加热；以及

温度调节器，控制所述加热器调节所述传热构件的温度。

6.根据权利要求5所述的测量装置，其特征在于，

所述冷却器具有冷却剂罐，冷却剂注入所述冷却剂罐，

所述传热构件将所述冷却剂罐的外壳热连接到所述近红外探针上。

7.根据权利要求2～6任意一项所述的测量装置，其特征在于，所述液化机构还具有将所述样品气体导入所述液化室的内径为1mm以下的导入管。

8.根据权利要求2～7任意一项所述的测量装置，其特征在于，还包括配置在所述液化室内的测量所述样品气体的温度的温度传感器。

9.一种校准线制作系统，其特征在于，包括：

如权利要求1～8任意一项所述的测量装置；以及

制作装置，根据通过使用性状值不同的多个样品作为所述样品气体而由所述测量装置对各性状值得到的所述样品气体的吸光度光谱的测量结果，制作表示所述样品气体的性状值以及吸光度光谱之间的关系的校准线。

10.一种校准线制作系统，其特征在于，包括：

如权利要求8所述的测量装置；以及

制作装置，根据通过使用性状值不同的多个样品作为所述样品气体并使所述液化室内的所述样品气体的温度变化而由所述测量装置对性状值以及温度的各组合得到的所述样品气体的吸光度光谱的测量结果，制作表示所述样品气体的性状值、温度以及吸光度光谱之间的关系的校准线。

11.一种光谱测量方法，所述光谱测量方法在具有可注入样品气体的容器的测量装置中使用，其特征在于，

使注入所述容器的所述样品气体液化，

通过从所述容器内延伸至所述容器外的近红外探针并利用近红外测量器测量液化状态的所述样品气体的吸光度光谱。

12.根据权利要求11所述的光谱测量方法，其特征在于，

在将缓冲罐抽真空之后，用所述样品气体填充所述缓冲罐，

从所述缓冲罐向所述容器注入所述样品气体。