[发明专利]一种用于水下全密封装置的密封检测系统及方法

说明书

本发明的一种用于水下全密封装置的密封检测系统包括用于容纳水下全密封装置的压力舱，压力舱上设有用于穿过水下全密封装置的线缆的过线机构，压力舱上连接有与其连通的排水阀，压力舱上连接有与其连通的供气系统和供水系统，压力舱上设有泄压阀，压力舱上设有若干用于观察压力舱内情况的观察口。该系统能够在检测时避免水进入水下全密封装置，有利于避免水下全密封装置电路系统进水损坏。本发明还提出一种用于水下全密封装置的密封检测方法。

技术领域

本发明涉及一种用于水下全密封装置的密封检测系统，属于水密检测技术领域。

背景技术

水下全密封装置是在水下持续工作的装置，该类装置对于密封可靠性的要求较高。多数水下全密封装置的接头采用硫化工艺防水，在生产过程中需要对水下全密封装置进行水密检测，以满足对于密封可靠性的要求。并且在水下全密封装置在使用的过程中由于受到意外损伤、使用环境影响和老化等因素常导致其密封失效。密封失效后可能会有水体进入电路系统，导致损坏。

常规的水密检测方法多为通过肉眼来评判其渗漏点，在使用过程中，出现密封失效后，方能通过肉眼来评判其渗漏点，此时已经进水导致损失。而且在多数情况下，即使密封失效进水也很难评判渗漏点。为了解决目视检测的问题，进一步产生了将水下全密封装置置入水压釜中进行测试，来确定水下全密封装置是否发生泄漏。但是这种方式是通过水压将水压入水下全密封装置来进行检测，当密封失效会导致水进入水下全密封装置的电路系统，在检测过程中多致损失。目前在现有技术中尚未有能够有效地、非破坏性地验证水下全密封装置的密封可靠的解决方式。

发明内容

为克服现有技术的不足，本发明提出一种用于水下全密封装置的密封检测系统，其能够在检测时避免水进入水下全密封装置，有利于避免水下全密封装置电路系统进水损坏。

为实现上述目的，本发明的一种用于水下全密封装置的密封检测系统，一种用于水下全密封装置的密封检测系统，包括用于容纳水下全密封装置的压力舱，压力舱上设有用于穿过水下全密封装置的线缆的过线机构，压力舱上连接有与其连通的排水阀，压力舱上连接有与其连通的供气系统和供水系统，压力舱上设有泄压阀，压力舱上设有若干用于观察压力舱内情况的观察口。

进一步地，过线机构包括连接在压力舱侧壁上的过线套，过线套的轴线上开设有凸形通孔，凸形通孔台阶底部设有第一垫片，第一垫片背离凸形通孔台阶底部的一面设有密封圈，密封圈背离第一垫片的一面设有第二垫片，第二垫片背离密封圈的一面设有锁紧螺母，第一垫片和第二垫片的轴线上开孔，锁紧螺母与凸形通孔螺纹连接。

进一步地，第一垫片和第二垫片为对开结构，所述第一垫片和第二垫片分别包括四个圆心角为90°的扇形柱状片体。

进一步地，密封圈为过线密封圈，过线密封圈的轴线上设有用于穿过水下全密封装置的开孔，过线密封圈为单开结构或对开结构，过线密封圈包括一对半圆柱状圈体或四个圆心角为90°的扇形柱状圈体。

进一步地，过线密封圈与凸形通孔之间为间隙连接，过线密封圈与凸形通孔之间的配合间隙为0.1mm-0.2mm，过线密封圈与水下全密封装置的线缆之间为间隙连接，过线密封圈与水下全密封装置的线缆之间的配合间隙为0.1mm-0.2mm，第一垫片与凸形通孔之间、第二垫片与凸形通孔之间为间隙连接，第一垫片与凸形通孔之间、第二垫片与凸形通孔之间的配合间隙为0.2mm-0.3mm，第一垫片与水下全密封装置的线缆之间、第二垫片与水下全密封装置的线缆之间为间隙连接，第一垫片与水下全密封装置的线缆之间、第二垫片与水下全密封装置的线缆之间的配合间隙为0.2mm-0.3mm。

进一步地，密封圈为堵头密封圈，堵头密封圈封闭第一垫片与第二垫片的开孔。

进一步地，供气系统包括通过管路依次连接的供气加压装置、单向阀和第一阀门，第一阀门的出口端通过管路与压力舱连通，单向阀的出口端与第一阀门的进口端之间还连接有溢流减压阀。