[发明专利]一种基于软数理形态算子的斑点检测方法及系统

权利要求书

1.一种基于软数理形态滤波器的斑点检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：输入灰度图像；

步骤2：对滤波器的参数进行设定；步骤2中的滤波器包括SMQ_A滤波器、SMQ_B滤波器：

其中，k_a,k_b＝1,2，...,|D|/2；k_c,k_d＝1,2，...,|R|/2；k_a≤k_b,k_c≤k_d；

其中，f为滤波对象图像，k_m,k_n＝1,...,|R|/2,；k_m≤k_n，R为圆环结构元素，D为圆盘结构元素，(u，v)∈D(x,y)，且D与R同圆心；

步骤3：对输入图像进行SMQ_A滤波处理；

步骤4：获取候选斑点图像；

步骤5：对候选斑点进行筛选；

步骤6：根据mask图像对候选斑点图像施行SMQ_B滤波处理；

步骤7：获得SMQ_B的滤波图像；

步骤8：从SMQ_B滤波图像获取斑点形状和位置。

2.如权利要求1所述的基于软数理形态滤波器的斑点检测方法，其特征在于，步骤2具体包括：

步骤2.1：设定SMQ_A滤波器的参数DA、R、k_a、k_b、k_c、k_d；DA是SMQ_A滤波器的圆盘结构元素；

步骤2.2：设定SMQ_B滤波器的参数DB、R、k_m、k_n；DB是SMQ_B滤波器的圆盘结构元素；

步骤2.3：设定斑点定位阈值Th_A1和斑点区域阈值Th_A2，用来控制斑点候选的数量。

3.如权利要求2所述的基于软数理形态滤波器的斑点检测方法，其特征在于，步骤3中，用SMQ_A滤波器对输入图像I(x,y)进行斑点滤波，获得定位点候选图像L(x,y)：

L(x,y)＝SMQ-A(D_A,R,k_a,k_b,k_c,k_d,I,x,y)。

4.如权利要求2所述的基于软数理形态滤波器的斑点检测方法，其特征在于，步骤5中，生成mask图像M(x，y)：

if L(x，y)＞Th_A1 M(x，y)＝1

else M(x，y)＝0。

5.如权利要求1所述的基于软数理形态滤波器的斑点检测方法，其特征在于，步骤6中，设I₂(x，y)为被SMQ_B滤波后的图像；先用0初始化I₂(x，y)，然后遍历图像I(x，y)中的每个有效像素点(x，y)，用SMQ_B进行以下滤波处理；v(u，v)是在(u，v)∈DB(x，y)处SMQ_B的滤波值；

If M(x，y)＝1，

do{v(u，v)＝SMQ_B(D_B，R，k_m，k_n，I，x，y，u，v)

if v(u，v)＞I₂(u，v)，I₂(u，v)＝v(u，v)

}。

6.如权利要求2所述的基于软数理形态滤波器的斑点检测方法，其特征在于，步骤8中，抽出斑点形状：

if I₂(u，v)≥Th_A2，I₃(u，v)＝I(u，v)

else I₃(u，v)＝0

其中，I₃(x，y)为被检测出的斑点图像。

7.一种基于软数理形态滤波器的斑点检测系统，其特征在于，采用如权利要求1-6之任一项所述的检测方法，所述系统包括以下步骤：

输入模块，其用于输入灰度图像；

设定模块，其用于对滤波器的参数进行设定；

第一处理模块，其用于对输入图像进行SMQ_A滤波处理；

候选图像获取模块，其用于获取候选斑点图像；

筛选模块，其用于对候选斑点进行筛选；

第二处理模块，其用于根据mask图像对候选斑点图像施行SMQ_B滤波处理；

滤波图像获取模块，其用于获得SMQ_B的滤波图像；

输出模块，其用于从SMQ_B滤波图像获取斑点形状和位置。