[发明专利]一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置

权利要求书

1.一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置，包括测试机和测试板卡，测试板卡与测试机相连接，其特征在于，所述测试板卡包括CD4069反相器、三极管Q1、三极管Q2和CD4541计数器，CD4069反相器的引脚1连接电阻R1，电阻R1的另一端连接电容C1和电阻R2，电阻R2的另一端连接CD4069反相器的引脚2和CD4069反相器的引脚3，电容C1的另一端连接CD4069反相器的引脚4和CD4069反相器的引脚5，CD4069反相器的引脚6连接三极管Q1的基极和三极管Q2的基极，CD4069反相器的引脚14连接电源VCC，CD4069反相器的引脚8-13均接地，三极管Q1的集电极连接三极管Q2的集电极和电源VCC，三极管Q1的发射极连接三极管Q2的发射极、电阻R4和电阻R5，电阻R4的另一端接地，电阻R5的另一端连接MOS管NMOS-2的栅极，MOS管NMOS-2的源极接地，MOS管NMOS-2的漏极连接电阻R6和CD4541计数器的引脚3，CD4541计数器的引脚5-7均接地，CD4541计数器的引脚12-14均连接电源VCC，CD4541计数器的引脚8输出测试结果信号到测试机。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置，其特征在于，所述测试机采用DTS-1000量产测试机。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置，其特征在于，所述DTS-1000量产测试机包括用于测试IC各项电性参数的主机和Interface通讯卡。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置，其特征在于，所述三极管Q1的型号为2N7002Z_TO92。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置，其特征在于，所述三极管Q2的型号为2N7002Z_TO92。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置，其特征在于，所述CD4069反相器的输出信号为1Mhz高频驱动信号。

7.根据权利要求2所述的一种集成电路高频电参数特性全自动测试装置，其特征在于，上电后，通过CD4069反相器产生1Mhz高频驱动信号，通过三极管Q1、三极管Q2输出，提高驱动能力以驱动MOS管NMOS-2，MOS管NMOS-2正常输出方波信号，经CD4541计数器计数后再PIN8输出高电平，反馈到DTS-1000量产测试机，若CD4541计数器无法接收到高电平，则说明MOS管NMOS-2无法在1MHZ下正常进行开关动作。