[发明专利]一种可单独取下探针的测试探针座在审

专利信息
申请号: 201911344998.6 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN111122926A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 徐俊 申请(专利权)人: 杭州易正科技有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 曹立成
地址: 310000 浙江省杭州市西*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 单独 取下 探针 测试
【说明书】:

发明公开了一种可单独取下探针的测试探针座,下盖板通过螺钉固定在上本体的下端面上并且封盖住限位槽;上本体的上端面上成型有若干正方形槽的上限位插槽;上限位插槽的下侧壁中心成型有正方形槽状的下限位插槽;一对水平移动限位板左右移动设置在同一上限位插槽内;探针的上部成型有与下限位插槽配合的探针限位块并且下部自上而下竖直穿过竖直插孔;下支撑板弹性竖直升降设置在限位槽内;下支撑板的下侧通过一对螺钉固定有电路板;电路板上设置有若干下接触点;下支撑板的下端面上成型有若干抵靠插槽;抵靠插槽与下接触点一一对应;抵靠插槽内插设有连接中心座。本发明的探针可单独取下,这样便于拆卸,维修方便,省时省力。

技术领域

本发明涉及集成电路封装测试领域,具体涉及一种可单独取下探针的测试探针座。

背景技术

集成电路的测试探针座,一般包括印刷电路板以及焊锡焊接于印刷电路板上的多根排列探针,通过探针与集成电路的引脚接触来测试集成电路的功能是否正常。然而,每一探针是以人工焊接制作,这样当测试探针座使用一段时间之后,探针的磨损而必须维修或是更换,维修不方便,整体更换的话,浪费巨大。

发明内容

本发明的目的是针对探针的磨损后维修或者更换不易的技术问题,提供了一种可单独取下探针的测试探针座。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种可单独取下探针的测试探针座,包括探针座本体和限位装置;探针座本体包括长方体状的上本体和下盖板;上本体的下端面上成型有矩形槽状的限位槽;下盖板通过螺钉固定在上本体的下端面上并且封盖住限位槽;上本体的上端面上成型有若干正方形槽的上限位插槽;上限位插槽的下侧壁中心成型有正方形槽状的下限位插槽;下限位插槽的下侧壁中心成型有向下贯穿设置的圆孔状的竖直插孔;限位装置包括若干对左右对称设置的水平移动限位板、若干圆柱状的探针和下支撑板;一对水平移动限位板左右移动设置在同一上限位插槽内;上限位插槽的左右侧壁上分别固定有限位压簧并且一对限位压簧靠近的一端分别固定在一对水平移动限位板远离的端面上;探针的上部成型有与下限位插槽配合的探针限位块并且下部自上而下竖直穿过竖直插孔;下支撑板弹性竖直升降设置在限位槽内;下支撑板的下侧通过一对螺钉固定有电路板;电路板上设置有若干下接触点;下支撑板的下端面上成型有若干抵靠插槽;抵靠插槽与下接触点一一对应;抵靠插槽内插设有连接中心座;连接中心座包括与抵靠插槽配合的座体;座体的下端面上成型有连接中心槽;连接中心槽的上侧壁上成型有向上贯穿的上连接插孔;连接中心槽内升降设置有一对连接支撑板;一对连接支撑板远离的端面上分别成型有连接柱、靠近的端面之间固定有连接压簧;上侧的连接柱竖直插设在上连接插孔上;连接柱与探针一一对应;工作状态,座体的上端插设在连接中心槽内、下端抵靠住下接触点上;上侧的连接柱的上端抵靠住探针的下端面上;下侧的连接柱的下端抵靠住下接触点。

作为上述技术方案的优选,同一上限位插槽的一对水平移动限位板的上端面靠近的边线倒角设置;探针限位块的下端面左右边线成型有与相应侧的水平移动限位板倒角配合的倒角面。

作为上述技术方案的优选,上限位插槽的前后侧壁上分别成型有左右水平导槽;水平移动限位板的前后端面分别成型有与左右水平导槽配合的左右水平导块。

作为上述技术方案的优选,限位槽的上侧壁上固定有若干圆环柱体状的防弯曲环柱;探针的下部竖直穿过防弯曲环柱;当探针工作状态时,防弯曲环柱的下端面与探针的下端面平齐。

作为上述技术方案的优选,限位槽的上侧壁的左右两端分别成型有若干前后均匀分布的竖直导向杆;下支撑板竖直套设在竖直导向杆上;下盖板的上端面上固定有若干压簧;压簧套设在竖直导向杆上并且压簧的上端抵靠住下支撑板的下端面。

作为上述技术方案的优选,下盖板的上端面左右两端分别成型有若干下限位插孔;当下盖板固定在上本体的下端面上时,竖直导向杆的下端插设到下限位插孔内并且抵靠住下限位插孔的下侧壁。

本发明的有益效果在于:探针可单独取下,这样便于拆卸,维修方便,省时省力。

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