[发明专利]一种电解铜箔通用型取样机以及取样方法有效

专利信息
申请号: 201911338683.0 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN110895211B 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 郑衍年;郭丽平;廖平元;刘少华;邹子萍;张佳梓 申请(专利权)人: 广东嘉元科技股份有限公司
主分类号: G01N1/04 分类号: G01N1/04
代理公司: 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 代理人: 王新爱
地址: 514759 广东省梅州市梅*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电解 铜箔 通用型 样机 以及 取样 方法
【说明书】:

发明公开了一种电解铜箔通用型取样机以及取样方法;属于电解铜箔生产及品质分析领域;其技术要点:其包括:呈水平面设置的圆形轨道、半径定位系统、方位转动调节系统、取样系统;其中方位转动调节系统用来调节角度;半径定位系统用来调节位置;取样系统来调节具体取样的大小。本发明旨在提供一种电解铜箔通用型取样机以及取样方法,提高电解铜箔取样的通用性与便利性。

技术领域

本发明涉及一种电解铜箔生产及品质分析领域,更具体地说,尤其涉及一种电解铜箔通用型取样机以及取样方法。

背景技术

电解铜箔,在出厂交货时,需要进行各种性能的测试。

在百度文库https://wenku.baidu.com/view/40c9b35f3c1ec5da50e270c8.html中,记载了:

1)铜箔的厚度:抽取一定数量的铜箔,使用测厚仪或千分尺进行测量。

2)延伸率:按抽样水平抽取样本,样本长度为200±0.5mm,宽度为15±0.25mm,然后使用拉伸试验机测试其延伸率试验机夹头距离为125±0.1mm,试验机夹头速度为50mm/min,实验温度为20±5℃。

3)氧化性:按抽样水平抽取一定数量的铜箔放入150℃烘箱内2h,然后取出观察铜箔是否变色。

对于测厚仪而言,一般采用THC-08B铜箔测厚仪(https://baike.baidu.com/item/%E9%93%9C%E7%AE%94%E6%B5%8B%E5%8E%9A%E4%BB%AA/5647736?fr=aladdin)来进行测量;或者利用重量来间接求。

而对于延伸率而言,现有技术:CN 207610898 U公开了一种电解铜箔抗拉延伸率测试裁样装置,包括底台、设置在底台上的裁切板以及设置在裁切板上的裁切机构和压紧机构,裁切机构包括裁切槽和裁切臂,裁切槽为设置在裁切板上的水平凹槽;裁切臂包括两根裁切条、支撑板和第一握手柄,两个裁切条的下端分别与裁切槽的开口端的两侧侧壁相铰接;压紧机构包括两根压紧条和第二握手柄,两根压紧条分别设置在两根的裁切条的外侧,且两根压紧条的下端分别与设置在裁切槽开口端两侧的两个连接块相铰接,第二握手柄设置在两根压紧条的上端,两根压紧条与第二握手柄中间的区域相连通形成裁切臂通过的通道。

而对于氧化性而言,也需要有铜箔试样才能实现。

从上述分析来看,铜箔取样有巨大的需求。然而,铜箔的厚度、延伸率、氧化性,其所需要的取样形状是不同的,现实的做法是,人工采用不同的取样设备进行取样。

因此,有必要研发一种通用的取样设备。

发明内容

本发明的目的在于针对上述现有技术的不足,提供一种电解铜箔通用型取样机。

本发明的目的在于针对上述现有技术的不足,提供一种电解铜箔的取样方法。

一种电解铜箔通用型取样机,其包括:呈水平面设置的圆形轨道、半径定位系统、方位转动调节系统、取样系统;

其中,所述半径定位系统包括:方位调节载体板、第一半径调节载体板驱动机构、第一半径调节载体板;

所述方位调节载体板转动支撑于圆形轨道上;

在方位调节载体板上设置有第一条形孔,所述第一条形孔经过圆形轨道的圆心;

第一半径调节载体板设置于方位调节载体板的上部,通过第一半径调节载体板驱动机构,使得第一半径调节载体板能够沿着第一条形孔移动;

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