[发明专利]一种无需白图像的光场相机检校方法及系统

权利要求书

1.一种无需白图像的光场相机检校方法，其特征在于，所述方法包括：

获取光场相机拍摄的电子棋盘格的光场原始图像；所述光场相机包括镜头、微透镜阵列和图像传感器；

根据所述光场原始图像进行所述微透镜阵列的检校，生成所述微透镜阵列的检校结果以及所述微透镜阵列的中心点格网；

所述根据所述光场原始图像进行所述微透镜阵列的检校，生成所述微透镜阵列的检校结果以及所述微透镜阵列的中心点格网，具体包括：

获取所述微透镜阵列的物理参数；所述物理参数包括所述微透镜阵列中微透镜的物理间距以及所述光场原始图像中像素的物理间距；

根据所述微透镜阵列的物理参数确定所述微透镜阵列中每个微透镜的物理中心；

根据所述光场原始图像确定所述微透镜阵列中每个微透镜的物理中心的图像投影点；

获取所述微透镜阵列的姿态参数及姿态参数范围；

确定所述微透镜阵列中每个微透镜的物理中心、微透镜的物理中心的图像投影点以及所述微透镜阵列的姿态参数三者之间的映射关系；

根据所述映射关系建立目的函数；

在所述姿态参数范围内优化所述姿态参数，使所述目的函数达到全局最小值；

确定使所述目的函数达到全局最小值时的姿态参数为最优姿态参数；所述最优姿态参数为所述微透镜阵列的检校结果；

将所述最优姿态参数带入所述映射关系中，得到所述微透镜阵列中每个微透镜的物理中心的图像投影点；

所述微透镜阵列中所有微透镜的物理中心的图像投影点构成所述微透镜阵列的微透镜图像的中心点格网；

采用模板匹配方法提取所述光场原始图像的线特征；

将所述线特征作为检校数据标定所述光场相机的投影模型的内外参数。

2.根据权利要求1所述的光场相机检校方法，其特征在于，所述采用模板匹配方法提取所述光场原始图像的线特征，具体包括：

获取预设的线特征模板及模板参数范围；

计算所述微透镜图像中所述微透镜的中心坐标与所述线特征模板的中心像素的归一化互相关值；

在所述模板参数范围内优化所述线特征模板的模板参数，令所述归一化互相关值最大；

确定令所述归一化互相关值最大的所述线特征模板为所述微透镜图像的最优线特征模板；

将所述最优线特征模板转换为所述光场原始图像的线特征。

3.根据权利要求2所述的光场相机检校方法，其特征在于，所述将所述线特征作为检校数据标定所述光场相机的投影模型的内外参数，具体包括：

获取所述光场相机的光场相机投影模型；

根据所述线特征和所述光场相机投影模型建立代价函数；

调节所述光场相机投影模型的内外参数，令所述代价函数的值最小；

确定令所述代价函数的值最小的内外参数为所述内外参数的标定值。