[发明专利]一种连接头测试方法和装置有效
| 申请号: | 201911338426.7 | 申请日: | 2019-12-23 |
| 公开(公告)号: | CN110940911B | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
| 发明(设计)人: | 徐耀志;徐耀立 | 申请(专利权)人: | 联纲光电科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 刘翠香 |
| 地址: | 523000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 接头 测试 方法 装置 | ||
1.一种连接头测试方法,其特征在于,所述连接头测试方法应用于连接头测试装置,所述连接头测试装置包括转换器、继电器、万用表、和处理设备,所述转换器和所述继电器电连接,所述万用表和所述继电器电连接,所述万用表和所述处理设备电连接;
所述连接头测试方法,包括:
将连接头连接所述转换器的接口端,以使得所述连接头的接口的不同线路连接所述转换器的不同线路,其中,所述连接头内设有目标电路;
所述继电器和所述处理设备电连接;
通过所述处理设备确定所述连接头的类型信息,通过所述处理设备,根据所述连接头的类型信息,配置所述继电器,以使所述万用表通过所述连接头的接口的线路电连接所述目标电路;
通过所述万用表测试所述目标电路,得到测试数据;
通过所述处理设备,根据所述测试数据,判断所述目标电路是否符合预设合格要求。
2.根据权利要求1所述的连接头测试方法,其特征在于,
所述目标电路包括集成电路IC和电容,所述IC和所述电容电连接;
所述通过所述万用表测试所述目标电路,得到测试数据,包括:
通过所述万用表的电容档测试所述目标电路,得到电容数据。
3.根据权利要求2所述的连接头测试方法,其特征在于,
所述通过所述处理设备,根据所述测试数据,判断所述目标电路是否符合预设合格要求,包括:
通过所述处理设备,判断所述电容数据是否在预设电容范围内;
若所述电容数据在所述预设电容范围内,则通过所述处理设备确定所述目标电路符合所述预设合格要求;
若所述电容数据不在所述预设电容范围内,则通过所述处理设备确定所述目标电路不符合所述预设合格要求。
4.根据权利要求1所述的连接头测试方法,其特征在于,
所述目标电路包括电阻;
所述通过所述万用表测试所述目标电路,得到测试数据,包括:
通过所述万用表的电阻档测试所述目标电路,得到电阻数据。
5.根据权利要求4所述的连接头测试方法,其特征在于,
所述通过所述处理设备,根据所述测试数据,判断所述目标电路是否符合预设合格要求,包括:
通过所述处理设备,判断所述电阻数据是否在预设电阻范围内;
若所述电阻数据在所述预设电阻范围内,则通过所述处理设备确定所述目标电路符合所述预设合格要求;
若所述电阻数据不在所述预设电阻范围内,则通过所述处理设备确定所述目标电路不符合所述预设合格要求。
6.根据权利要求1所述的连接头测试方法,其特征在于,
所述通过所述万用表测试所述目标电路,得到测试数据之后,所述方法还包括:
通过所述处理设备,根据万用表数据传输协议,判断所述测试数据是否出现预设传输误差;
若所述测试数据不出现所述预设传输误差,则执行所述通过所述处理设备,根据所述测试数据,判断所述目标电路是否符合预设合格要求的步骤。
7.根据权利要求1所述的连接头测试方法,其特征在于,
所述连接头测试装置还包括扫码枪,所述扫码枪和所述处理设备信号连接;
所述通过所述处理设备确定所述连接头的类型信息之前,所述方法还包括:
通过所述扫码枪扫描所述连接头上的二维码,得到所述连接头的类型信息;
所述通过所述处理设备确定所述连接头的类型信息,包括:
通过所述处理设备从所述扫码枪获取所述连接头的类型信息。
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