[发明专利]一种大口径红外光电系统内杂散辐射的测量方法及装置

说明书

本发明提出了一种大口径红外光电系统内杂散辐射的测量方法及装置，包括：调整待测红外光电系统与黑体的位置平行对准后，改变所述黑体的温度，以对所述待测红外光电系统进行辐射定标获取响应增益G₀，以及响应偏置h_det1和h_det2；获取当前的环境温度T_amb0，将所述黑体温度升高至T₁，在积分时间t₀下，采集图像h(t₀,T₁,T_amb0)；继续将所述黑体的温度升至T₂，在积分时间t(t≠t₀)下，采集图像h(t,T₂,T_amb0)；根据公式计算杂散辐射响应系数G_stray，进而对不同温度下红外光电系统的内部杂散辐射进行测量，该过程中不必使用低温实验箱，测量计算过程简单，易实现。

技术领域

本发明涉及光电辐射测量技术领域，尤其涉及一种大口径红外光电系统内杂散辐射的测量方法及装置。

背景技术

地基红外成像系统是靶场光学观测设备的重要组成部分，随着红外技术、测控技术和装备技术的快速发展，靶场地基红外成像系统也已经广泛应用于靶场军事目标的红外辐射特性测量。辐射特性测量实际上是定量遥感技术的一种，定量化就意味着需要对系统进行定标，基于标准参考辐射源的辐射定标技术正是高精度的红外辐射特性测量的基础。由于红外系统对热能敏感，无论辐射定标还是辐射特性测量过程中环境温度的变化都会导致系统输出变化，表现为系统输出灰度随着环境温度变化而发生漂移，这就会限制辐射特性测量的精度及测量结果的稳定性。因此对于一些测量精度要求较高的系统，我们通常要求辐射定标和目标辐射特性测量过程中环境温度稳定，并且二者的环境条件相同。

鉴于上述原因，有必要提出一种新的测量方法。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种大口径红外光电系统内杂散辐射的测量方法及装置，以解决现有技术中大口径红外光电系统无法在温控箱内进行杂散辐射测量的问题。

为实现上述目的，本发明提供的一种大口径红外光电系统内杂散辐射的测量方法，所述测量方法包括：

调整待测红外光电系统与黑体的位置平行对准后，改变所述黑体的温度，以对所述待测红外光电系统进行辐射定标获取响应增益G₀，以及响应偏置h_det1和h_det2；

获取当前的环境温度T_amb0，将所述黑体温度升高至T₁，在积分时间t₀下，采集图像h(t₀,T₁,T_amb0)；

继续将所述黑体的温度升至T₂，在积分时间t(t≠t₀)下，采集图像h(t,T₂,T_amb0)；

根据公式计算所述待测红外光电系统的杂散辐射响应系数G_stray，其中，L(T₁)、L(T₂)分别为温度T₁和T₂时，所述黑体标准辐射亮度，L(T_amb0)为T_amb0时所述待测红外光电系统的内部杂散辐射；

当环境温度为T_amb时，所待测红外光电系统内部杂散辐射L(T_amb)为：

可选地，所述调整待测红外光电系统与黑体的位置平行对准具体为，

调整所述待测红外光电系统中红外探测器的中心线穿过所述黑体的几何中心。