[发明专利]取像参数的调整方法有效

专利信息
申请号: 201911336571.1 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN113099100B 公开(公告)日: 2022-10-18
发明(设计)人: 蔡昆佑 申请(专利权)人: 神讯电脑(昆山)有限公司;神基科技股份有限公司
主分类号: H04N5/232 分类号: H04N5/232;H04N5/235;H04N5/225;G01N21/88;G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 参数 调整 方法
【说明书】:

一种取像参数的调整方法,其包括:以一摄像模块分别拍摄若干个物件以得到若干个物件的若干个物件影像、利用各物件影像判定对应的物件的至少一目标形态、以若干个物件的若干个目标形态与若干个物件对应的若干个组取像参数进行一群集分析以得到一稳定群集、以及根据稳定群集更新一组基底参数。其中,拍摄各物件的步骤包括:调整一组随机参数、以一组基底参数及调整后的一组随机参数产生一组取像参数、以产生的取像参数设定摄像模块、以及以设定后的摄像模块拍摄物件。本发明的取像参数的调整方法,能利用批次的群集分析的乖离率动态调整取像品质。

【技术领域】

本发明是关于影像检测技术,特别是关于一种取像参数的调整方法。

【背景技术】

各种安全性保护措施是通过许多小型结构物件所组成,例如安全带。若是这些小型结构物件强度不足则可以令安全性保护措施的保护作用产生疑虑。

这些结构物件在制造过程中可能因为各种原因,例如碰撞、制程误差、模具缺陷等,而导致其表面产生微小的缺陷,例如槽孔、裂缝、凸块及纹理等。这些微小的缺陷并不容易被查觉。现有的缺陷检测方法其中之一是人工以肉眼观察或以双手触摸待检测的结构物件,以判定结构物件是否具有缺陷,例如凹坑、划痕、色差、缺损等。然而,以人工方式检测结构物件是否具有缺陷的效率较差,且极容易发生误判的情形,如此将造成结构物件的良率无法控管。

【发明内容】

在一实施例中,一种取像参数的调整方法,其包括:以一摄像模块分别拍摄若干个物件以得到若干个物件的若干个物件影像、利用各物件影像判定对应的物件的至少一目标形态、以若干个物件的若干个目标形态与若干个物件对应的若干个组取像参数进行一群集分析以得到一稳定群集、以及根据稳定群集更新一组基底参数。其中,拍摄各物件的步骤包括:调整一组随机参数、以一组基底参数及调整后的一组随机参数产生一组取像参数、以产生的取像参数设定摄像模块、以及以设定后的摄像模块拍摄物件。

综上所述,根据任一实施例的取像参数的调整方法能利用批次的群集分析的乖离率动态调整取像品质。在一些实施例中,取像参数的调整方法还能依据过杀及过放需求利用批次的群集分析来动态调整取像品质。在一些实施例中,取像参数的调整方法还能对于大批量生产品质飘移(如表面粗糙度、反光度等)自适性地调整摄像模块的取像设定。

【附图说明】

图1为一实施例的影像检测系统的示意图。

图2为一些实施例的影像检测系统的功能方框图。

图3为一实施例的取像参数的调整方法的流程图。

图4为一实施例的影像检测系统的示意图。

【具体实施方式】

根据本发明任一实施例的取像参数的调整方法可适于一影像检测系统。

参照图1及2,影像检测系统10适用以撷取物件20的待检测区域20A的物件影像。再者,影像检测系统10还可利用撷取到的物件影像来判定此物件20的至少一目标型态。在一些实施例中,目标型态可为此物件20的特定部位(如,位于待检测区域20A的特定结构)的估算尺寸、此物件20的特定部位的变形量、或此物件20的缺陷等。其中,估算尺寸可为物件20的特定部位的长度、宽度、直径或其组合等。特定部位可为位于待检测区域20A的特定结构,如槽孔、凸块、或转轴等。在一些实施例中,判定的物件20的缺陷可以缺陷率呈现。

在一些实施例中,参照图1至图3,影像检测系统10包含承载组件110、摄像模块130及信号处理装置150。承载组件110用以承载待检测的物件20,以使物件20的待检测区域20A对准摄像模块130的镜头。摄像模块130用以拍摄物件20以得到物件20的物件影像(步骤S110)。信号处理装置150耦接承载组件110和摄像模块130,并用以控制各组件(如,承载组件110和摄像模块130等)的运作。此外,信号处理装置150还接收摄像模块130所得到物件影像并利用接收到的物件影像来判定此物件20的目标型态(步骤S120)。

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