[发明专利]Mura校正系统在审
申请号: | 201911336522.8 | 申请日: | 2019-12-23 |
公开(公告)号: | CN111383566A | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
发明(设计)人: | 金起泽;朴俊泳;张斗华;刘承完;金斗渊 | 申请(专利权)人: | 硅工厂股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G3/20 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 王达佐;王艳春 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | mura 校正 系统 | ||
Mura校正系统,其对通过拍摄显示面板而获得的检测图像中的Mura像素执行校正。Mura校正系统可以检测单个Mura像素并实现对所检测的一个Mura像素的校正,并且可以实现对Mura块的某一区域的Mura像素的基于块的校正。
技术领域
各种实施方式总体涉及Mura校正系统,并且更具体地,涉及一种对通过拍摄显示面板获得的检测图像中的Mura像素进行校正的Mura校正系统。
背景技术
近来,LCD面板和OLED面板已被广泛用作显示面板。
由于制造过程中的误差等,可能在显示面板中出现亮度不均匀(Mura)。Mura表示显示图像在像素或某个区域处具有斑点形式的不均匀亮度。出现Mura的缺陷称为Mura缺陷。
需要对Mura缺陷进行检测和校正,以允许显示面板具有改善的图像质量。
发明内容
各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统:其基于亮度值在检测图像中检测块中的单个Mura像素,并且生成待应用到二次Mura像素校正方程式的Mura像素校正数据以对Mura像素的亮度值进行校正,其中检测图像是通过检测显示在显示面板上的测试图像而获得的。
此外,各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统:其基于从显示在显示面板上的测试图像检测到的检测图像中的亮度值来检测Mura块,将Mura块划分成Mura像素的Mura子块和正常像素的正常子块,在Mura子块和正常子块之间选择具有较小面积的子块作为校正子块,以及生成待应用到二次Mura像素校正方程式的Mura像素校正数据以对校正子块中的像素的亮度值进行校正。
此外,各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统:其在Mura子块和正常子块之间选择具有较大面积的子块作为非校正子块,并对非校正子块执行Mura校正。
在实施方式中,Mura校正系统可以包括Mura校正装置,所述Mura校正装置配置成接收与显示面板的每个灰度级的测试图像对应的检测图像,并且生成用于Mura像素的Mura像素校正数据。
Mura校正装置可以包括Mura块检测器、Mura像素检测器、第一系数生成器,其中:Mura块检测器配置成基于显示面板的平均像素亮度值来在各自包括多个像素的块之中检测具有Mura像素的Mura块,并且提供Mura块的位置值;Mura像素检测器配置成接收Mura块的位置值,基于预设的参考值检测Mura块中的Mura像素,并提供Mura像素的位置值;第一系数生成器配置成接收Mura像素的位置值,生成Mura像素校正方程式的系数的系数值,并且生成包括Mura像素的位置值和Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据,其中,Mura像素校正方程式是用于将Mura像素的每个灰度级的亮度值校正成显示面板的平均像素亮度值的二次方程式。
此外,Mura校正装置可以包括Mura块检测器、Mura像素检测器以及第一系数生成器,其中:Mura块检测器配置成在各自包括多个像素的块之中检测通过基于显示面板的平均像素亮度值确定的、包括具有密集Mura的Mura像素的Mura块,将Mura块划分成包括Mura像素的第一子块和包括具有相对少量Mura的像素的第二子块,在第一子块和第二子块之间选择具有较小面积的子块作为校正子块,以及提供校正子块的位置值;Mura像素检测器配置成接收校正子块的位置值,并提供校正子块中的像素的位置值;第一系数生成器配置成接收校正子块中的像素的位置值,生成Mura像素校正方程式的系数的系数值,其中,Mura像素校正方程式是用于将校正子块中的每个像素的每个灰度级的亮度值校正成显示面板的平均像素亮度值的二次方程式,以及生成包括校正子块的像素的位置值和Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据。
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