[发明专利]一种集成电路测试分选机的分粒机构

权利要求书

1.一种集成电路测试分选机的分粒机构，包括电路流道(1)，其特征在于：电路流道(1)的上端固定连接有固定框(2)，所述固定框(2)呈倒“U”型设置，所述固定框(2)的下端中心处固定连接有固定块(3)，所述固定块(3)的下端铰接有伸缩装置(4)，所述伸缩装置(4)的两端对称铰接有分选装置(5)，所述固定框(2)的下端安装有动力装置(6)；

所述分选装置(5)包括滑筒(51)、滑杆(52)和分选块(53)，两个所述滑筒(51)对称铰接在伸缩装置(4)的两端，所述滑筒(51)的开口向上设置，所述滑杆(52)滑动连接在滑筒(51)内，所述滑杆(52)远离滑筒(51)内筒底的一端穿过滑筒(51)的筒口并向上延伸，且固定连接在固定框(2)内的对应位置上，两个所述分选块(53)分别固定连接在滑筒(51)外的下端，所述分选块(53)位于电路流道(1)的正上方。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述伸缩装置(4)包括挡板(41)、移动槽(42)和移动杆(43)，所述挡板(41)的上端中心处铰接在固定块(3)的下端上，两个所述移动槽(42)对称开设在挡板(41)的两端，两个所述移动杆(43)分别滑动连接在两个移动槽(42)内，所述移动杆(43)远离移动槽(42)槽底的一端穿过移动槽(42)的槽口并向外延伸，且铰接在对应滑筒(51)的外侧壁上。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述滑筒(51)内对称开设有限位槽(7)，所述限位槽(7)内滑动连接有限位块(8)，所述限位块(8)远离限位槽(7)槽底的一端穿过限位槽(7)的槽口并向外延伸，且固定连接在滑杆(52)的对应杆壁上。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述限位块(8)靠近限位槽(7)槽底的一端开设有滚珠槽(9)，所述滚珠槽(9)内滚动连接有滚珠(10)，所述滚珠(10)远离滚珠槽(9)槽底的一端穿过滚珠槽(9)的槽口向外延伸，且与限位槽(7)的槽底滚动连接。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述滚珠(10)的直径大于滚珠槽(9)槽口的口径。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述动力装置(6)包括气缸(61)和导轨(62)，所述气缸(61)安装在固定框(2)内的底部，所述导轨(62)固定连接在挡板(41)上端的一侧，所述气缸(61)的输出端铰接在导轨(62)的输出端上。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试分选机的分粒机构，其特征在于：所述固定框(2)的外表面上涂有防腐涂层。