[发明专利]屏幕漏光检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201911331059.8 申请日: 2019-12-20
公开(公告)号: CN113008524B 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 田野;李小明;黄春来;孙旺;张海涛 申请(专利权)人: 合肥欣奕华智能机器股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 230013 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 屏幕 漏光 检测 方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种屏幕漏光检测方法及装置,涉及显示检测领域,能够在提升检测精度的同时降低其对检测暗室环境的要求。所述屏幕漏光检测方法,包括:获取待检测屏幕的灰度显示图像;根据所述灰度显示图像提取所述待检测屏幕的显示区轮廓;获取所述灰度显示图像中位于所述显示区轮廓外部的目标区域,所述目标区域内各像素的灰度值大于或等于第一阈值;从所述灰度显示图像中剔除所述目标区域,得到检测图像;根据所述检测图像确定所述待检测屏幕的漏光区域。本发明提供的屏幕漏光检测方法及装置用于检测LCM的屏幕漏光区域。

技术领域

本发明涉及显示检测领域,尤其涉及一种屏幕漏光检测方法及装置。

背景技术

对于具备屏幕可显示的电子设备,在其出厂前需要对屏幕进行各种指标的检测,其中包括对屏幕进行漏光检测,以确保该电子设备能够正常显示。目前,屏幕漏光检测主要包括传统人工检测和自动光学检测(Automated Optical Inspection,简称AOI)。

传统人工检测是通过肉眼来观察屏幕在显示时是否会出现不均匀的亮块,并由此来确定屏幕是否漏光。但是,传统人工检测的效率低下,人力成本高。并且,由于人眼容易出现疲劳,以及存在主观判断标准不一致的情况,因此传统人工检测的检测准度较低。

然而,AOI检测又容易局限于暗室的环境,其对光学环境的要求很高。在屏幕通过自动产线进出暗室,或者人工进出暗室时,外界环境光容易对AOI检测过程中屏幕的成像质量产生不良影响,进而影响其检测效果。

发明内容

本发明提供一种屏幕漏光检测方法及装置,用于检测屏幕上的漏光区域,能够在提升检测精度的同时降低其对检测暗室环境的要求。

为达到上述目的,本发明一些实施例提供了如下技术方案:

一方面,提供了一种屏幕漏光检测方法。该屏幕漏光检测方法,包括:获取待检测屏幕的灰度显示图像;根据灰度显示图像提取待检测屏幕的显示区轮廓;获取灰度显示图像中位于显示区轮廓外部的目标区域,所述目标区域内各像素的灰度值大于或等于第一阈值;从灰度显示图像中剔除目标区域,得到检测图像;根据检测图像确定待检测屏幕的漏光区域。

本发明提供的屏幕漏光检测方法,在获取待检测屏幕的灰度显示图像,并根据该灰度显示图像提取待检测屏幕的显示区轮廓之后,能够针对显示区轮廓的外部图像进行灰度阈值分割,从而有效获取目标区域(例如高亮显示区域)。这样在将目标区域(例如高亮显示区域)从灰度显示图像中剔除以得到检测图像后,能够避免目标区域(例如高亮显示区域)对检测图像的处理分析产生干扰,有利于提高检测图像中漏光区域同检测图像中其余区域的对比度,进而利用该检测图像准确检测待测屏幕的漏光区域。

此外,由于目标区域(例如高亮显示区域)是暗室中因外界环境光影响而在待测屏幕的灰度显示图像中形成的不良区域,容易对后续屏幕漏光区域的确定造成干扰。因此,本发明一些实施例提供的屏幕漏光检测方法,利用剔除目标区域(例如高亮显示区域)之后检测图像进行漏光检测,能够在提升漏光区域的检出精度的同时,降低其检测过程对检测暗室环境的要求。

在一些实施例中,屏幕漏光检测方法,还包括:确定掩模信息,掩模信息包括遮挡区的位置信息和特征信息;根据掩模信息控制待检测屏幕的漏光区域的输出。

在一些实施例中,位置信息包括像素坐标,特征信息包括像素灰度;根据掩模信息控制待检测屏幕的漏光区域的输出,包括:根据公式控制待检测屏幕的漏光区域的输出。其中,f(x,y)为控制待检测屏幕的漏光区域是否输出的控制信号,(x,y)为目标像素的像素坐标,pos(x,y)为漏光区域的像素坐标,Mpos(x,y)为遮挡区的像素坐标的集合,fe(x,y)为漏光区域的像素灰度,Mfe(x,y)为遮挡区的像素灰度的集合。

在一些实施例中,获取灰度显示图像中位于显示区轮廓外部的目标区域,包括:根据待检测屏幕的显示区轮廓,从灰度显示图像中提取显示区轮廓的外部图像;对显示区轮廓的外部图像进行灰度阈值分割,获取目标区域。

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