[发明专利]一种低能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法

说明书

本发明公开了一种低能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法，属于CT检测技术领域，解决了现有技术中CT探测装置成本高、不利于设备的推广应用，降低成本不能保证成像精度等问题。本发明CT探测器，包括高能探测器和低能探测器，高能探测器和低能探测器采用背靠背式排列，每个低能探测器下方均设置有一个高能探测器；高能探测器和低能探测器均设置有多排，高能探测器排数大于低能探测器排数，至少部分低能探测器集中分布。本发明CT探测器部分低能探测器集中排布，降低成本的同时成像精度较高。

技术领域

本发明属于CT检测技术领域，特别涉及一种低能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法。

背景技术

在基于X射线的爆炸物检查技术中，X射线计算机断层扫描成像技术(简称“CT技术”)因其自身特有的优势，在安全检查领域被高度重视。在美国交通安全局(TSA,Transportation Security Administration)唯一认证的EDS(Explosive DetectionSystem)型安检设备就是CT设备，可见X射线CT技术在安全检查领域的地位。

X射线CT安检技术是通过对CT数据进行重建得到被扫描物体的断层图像，通过对断层图像中的特征数据进行分析，实现对被扫描物体中危险物品的识别。为了提高CT识别的精度，通常采用双能CT成像方式，双能成像的实现方式可以有射线源高低能快速切换，双源成像，双层探测器等多种模式，其中，针对安检应用，双层探测器模式应用最为普遍，按照高低能的排布模式，主要分为“背靠背”和“骑马式”两种。

上述两种模式，需要一个低能探测器像素对应一个高能探测器像素，成本较高，不利于设备的推广应用。本着降低探测器成本的目的，本发明设计了一种CT探测装置以及具有该装置的CT系统。

发明内容

鉴于以上分析，本发明旨在提供一种低能稀疏的CT探测器、CT检测系统及检测方法，用以解决现有技术中CT探测装置成本高、不利于设备的推广应用，降低成本不能保证成像精度等问题。

本发明的目的主要是通过以下技术方案实现的：

一种低能稀疏的CT探测器，包括高能探测器和低能探测器，高能探测器和低能探测器采用背靠背式排列，每个低能探测器下方均设置有一个高能探测器；

高能探测器和低能探测器均设置有多排，高能探测器排数大于低能探测器排数，至少部分低能探测器集中分布；

高能探测器和低能探测器之间设置有铜片，铜片用于过滤经过了低能探测器以后的射线。

进一步的，集中分布的多排低能探测器设置在多排高能探测器的中间位置。

进一步的，少数低能探测器设置在多排高能探测器的两侧。示例性的，少数低能探测器为2-6排。

进一步的，集中分布的多排低能探测器设置在多排高能探测器的一侧。

进一步的，少数低能探测器设置在多排高能探测器的另一侧。

进一步的，铜片的厚度为0.3-1mm。

进一步的，高能探测器和低能探测器均包括闪烁体和二极管。

一种CT检测系统，包括CT探测装置、传送带、数据处理计算机、传送带电机、滑环电机和运动控制计算机；

CT探测装置包括射线源、旋转盘和CT探测器。

进一步的，射线源和CT探测器设置于旋转盘上，CT探测器与数据处理计算机连接，传送带电机和滑环电机均与运动控制计算机连接；

运动控制计算机控制传送带电机带动传送带匀速运动，运动控制计算机控制滑环电机匀速转动。

一种CT检测方法，包括以下步骤：